[發明專利]Mura檢測方法、裝置及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010475158.X
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN111652865B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 王艷雪
• 申請（專利權）人: 惠州市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/90
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

本申請公開了一種mura檢測方法、裝置及可讀存儲介質，檢測方法包括：獲取原始圖像信號；從原始圖像信號中獲取目標測試圖像；獲取目標測試圖像中mura所在區域作為目標測試區域；對目標測試區域進行處理以得到目標測試區域的灰階分布；根據灰階分布得到目標測試區域的亮度梯度分布；根據目標測試區域的亮度梯度分布計算SEMU值；根據SEMU值獲取mura區域對應位置。通過上述實施方式，本申請能夠實現對暈影現象的進行客觀測量及評價。

技術領域

本申請涉及灰階亮度調節技術領域，特別是涉及一種mura檢測方法、裝置及可讀存儲介質。

背景技術

區域調光(local diming)技術是指將LCD的背光分成N多小區域(Block)；工作時，根據相應小區域對應液晶顯示的內容的灰度，來調整背光的明暗度；以此達到節能、增強畫質的目的。

隨著技術的發展區域調光容易引入Halo(暈影)現象，mura的一種，即受限于背光分區面板本來的對比度特性等，在高亮的像素旁邊的黑色像素處會出現暈影的現象，影響高對比圖像的顯示效果，因此現象區域較小，無法使用光學測量儀器進行量測，且現有技術一般為人眼進行主觀性評價，無法客觀測量。

發明內容

本申請提供一種mura檢測方法、裝置及可讀存儲介質，能夠解決現有技術中無法對暈影現象的進行客觀測量及評價的問題。

為解決上述技術問題，本申請采用的一種技術方案是：提供一種mura的檢測方法，所述檢測方法包括：獲取原始圖像信號；從所述原始圖像信號中獲取目標測試圖像；獲取所述目標測試圖像中mura所在區域作為目標測試區域；對所述目標測試區域進行處理以得到所述目標測試區域的灰階分布；根據所述灰階分布得到所述目標測試區域的亮度梯度分布；根據所述目標測試區域的所述亮度梯度分布計算SEMU值；根據所述SEMU值獲取所述mura區域對應位置。

其中，所述對所述目標測試區域進行處理以得到所述目標測試區域的灰階分布包括：調整所述目標測試區域的位置；獲取所述目標測試區域中每一像素的RGB灰階值。

其中，所述根據所述灰階分布得到所述目標測試區域的亮度梯度分布包括：將所述目標測試區域中的每一所述像素的RGB灰階值進行色度轉換，以獲得其在顏色系統的三刺激值XYZ；根據所述三刺激值得到所述目標測試區域的亮度梯度分布。

其中，所述對每一所述像素的RGB灰階值進行色度轉換采用公式為：

其中，A為轉換矩陣

其中，所述SEMU值計算公式為：|C_x|＝|C₁-C₂|/C₂其中，C₁為所述mura區域的平均灰階值，C₂為所述mura區域之外的平均灰階值，S_x為所述mura區域的面積，所述SEMU為所述mura區域的mura等級。

其中，所述根據所述SEMU值獲取所述mura區域對應位置包括：獲取所述SEMU值與所述mura區域的位置關系曲線；根據所述位置關系曲線的峰值判定所述mura區域對應寬度。

其中，所述根據所述位置關系曲線的峰值判定所述mura區域對應寬度包括：設定所述位置關系曲線的預設臨界值；根據所述臨界值獲取所述mura區域對應寬度。

其中，所述所述從所述原始圖像信號中獲取目標測試圖像包括：從所述原始圖像信號中獲取多張預設拍攝角度的圖像；從所述多張預設拍攝角度的圖像中選擇符合測試條件的作為所述目標測試圖像。