[發明專利]Mura檢測方法、裝置及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010475158.X
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN111652865B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 王艷雪
• 申請（專利權）人: 惠州市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/90
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

1.一種mura檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

獲取原始圖像信號；

從所述原始圖像信號中獲取目標測試圖像；

獲取所述目標測試圖像中mura所在區域作為目標測試區域；

對所述目標測試區域進行處理以得到所述目標測試區域的灰階分布；

根據所述灰階分布得到所述目標測試區域的亮度梯度分布；

根據所述目標測試區域的所述亮度梯度分布計算SEMU值；

根據所述SEMU值獲取所述mura區域對應位置；

其中，所述根據所述SEMU值獲取所述mura區域對應位置包括：

獲取所述SEMU值與所述mura區域的位置關系曲線；

根據所述位置關系曲線的臨界值判定所述mura區域對應寬度。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述對所述目標測試區域進行處理以得到所述目標測試區域的灰階分布包括：

調整所述目標測試區域的位置；

獲取所述目標測試區域中每一像素的RGB灰階值。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述灰階分布得到所述目標測試區域的亮度梯度分布包括：

將所述目標測試區域中的每一所述像素的RGB灰階值進行色度轉換，以獲得其在顏色系統的三刺激值XYZ；

根據所述三刺激值得到所述目標測試區域的亮度梯度分布。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述對每一所述像素的RGB灰階值進行色度轉換采用公式為：

其中，A為轉換矩陣

5.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述SEMU值計算公式為：

|C_x|＝|C₁-C₂|/C₂

其中，C₁為所述mura區域的平均灰階值，C₂為所述mura區域之外的平均灰階值，S_x為所述mura區域的面積，所述SEMU為所述mura區域的mura等級。

6.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述位置關系曲線的臨界值判定所述mura區域對應寬度包括：

設定所述位置關系曲線的預設臨界值；

根據所述臨界值獲取所述mura區域對應寬度。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述從所述原始圖像信號中獲取目標測試圖像包括：

從所述原始圖像信號中獲取多張預設拍攝角度的圖像；

從所述多張預設拍攝角度的圖像中選擇符合測試條件的作為所述目標測試圖像。

8.一種mura檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括：

第一獲取模塊，用于獲取原始圖像信號；

第二獲取模塊，用于從所述原始圖像信號中獲取目標測試圖像；

第三獲取模塊，用于獲取所述目標測試圖像中mura所在區域作為目標測試區域；

處理模塊，用于對所述目標測試區域進行處理以得到所述目標測試區域的灰階分布；

亮度梯度獲取模塊，用于根據所述灰階分布得到所述目標測試區域的亮度梯度分布；

計算模塊，用于根據所述目標測試區域的所述亮度梯度分布計算SEMU 值；

位置獲取模塊，用于根據所述SEMU 值獲取所述mura區域對應位置，還用于獲取所述SEMU值與所述mura區域的位置關系曲線，并根據所述位置關系曲線的臨界值判定所述mura區域對應寬度。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有多條指令，所述指令適于由處理器加載以執行權利要求1-7中任一項所述的檢測方法。