[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)處理方法、溫度檢測電路及電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010470553.9
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111504491B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李清泉
• 申請（專利權(quán)）人: 為麥智能科技(天津)有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16;G01K7/22;G01K7/24
• 代理公司: 北京太合九思知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11610
• 代理人: 柴艷波;劉戈

本申請公開了一種數(shù)據(jù)處理方法、溫度檢測電路及電子設(shè)備，其中，數(shù)據(jù)處理方法包括：獲取被測電阻對應(yīng)的采樣值；獲取第一參考信息；利用所述被測電阻對應(yīng)的采樣值，以及所述第一參考信息確定所述被測電阻的電阻值；其中，所述第一參考信息包括：第一參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應(yīng)的采樣值；根據(jù)所述被測電阻的電阻值確定目標溫度值。實現(xiàn)了提高溫度的檢測準確度的技術(shù)效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請屬于醫(yī)學技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種數(shù)據(jù)處理方法、溫度檢測電路及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，目前常用的溫度檢測方法是將熱敏電阻和固定電阻進行串聯(lián)后，通過測量熱敏電阻兩端的電壓或者流過的電流值，基于熱敏電阻的阻值和溫度特性表確定對應(yīng)的溫度值；在此過程中，測量電路中所用的電子元器件的參數(shù)受到使用時間，環(huán)境溫度的變化會發(fā)生參數(shù)漂移，導(dǎo)致隨著使用時間的變化而出現(xiàn)準確性變差的現(xiàn)象，從而會導(dǎo)致溫度測量結(jié)果的不準確，現(xiàn)有技術(shù)中的溫度測量方法溫度檢測結(jié)果的準確度較低。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請?zhí)峁┮环N數(shù)據(jù)處理方法、溫度檢測電路及電子設(shè)備，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的溫度檢測方法檢測溫度的準確度較低的技術(shù)問題。

在本申請的一個實施例中，提供了一種數(shù)據(jù)處理方法。包括：獲取被測電阻對應(yīng)的采樣值；獲取第一參考信息；利用所述被測電阻對應(yīng)的采樣值，以及所述第一參考信息確定所述被測電阻的電阻值；其中，所述第一參考信息包括：第一參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應(yīng)的采樣值；根據(jù)所述被測電阻的電阻值確定目標溫度值。

在本申請的一個實施例中，提供了一種溫度檢測電路，包括：被測電阻、第一參考電阻、檢測裝置以及第一開關(guān)電路；所述檢測裝置，用于通過所述第一開關(guān)電路與所述被測電阻及所述第一參考電阻連接，用于：獲取所述被測電阻對應(yīng)的采樣值；獲取第一參考信息；利用所述被測電阻對應(yīng)的采樣值，以及所述第一參考信息確定所述被測電阻的電阻值；其中，所述第一參考信息包括：所述第一參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應(yīng)的采樣值；根據(jù)所述被測電阻的電阻值確定目標溫度值。

在本申請的一個實施例中，提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲器及處理器；其中，所述存儲器，用于存儲程序；所述處理器，與所述存儲器耦合，用于調(diào)用所述存儲器中的程序指令，以執(zhí)行上述的數(shù)據(jù)處理方法。

本申請實施例提供的方案，通過獲取被測電阻對應(yīng)的采樣值；獲取第一參考信息；利用所述被測電阻對應(yīng)的采樣值，以及所述第一參考信息確定所述被測電阻的電阻值；其中，所述第一參考信息包括：第一參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應(yīng)的采樣值；根據(jù)所述被測電阻的電阻值確定目標溫度值的方案，基于對被測電阻對應(yīng)的采樣值，以及第一參考電阻對應(yīng)的采樣值的引入，消除了二者共有的同類誤差，提高了溫度檢測的準確度。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本申請的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中：

圖1為本申請一實施例提供的溫度檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本申請一實施例提供的熱敏電阻的溫度和電阻值特性曲線圖；

圖3為本申請一實施例提供的溫度檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本申請一實施例提供的ADC測量結(jié)果的特性示意圖；

圖5為本申請一實施例提供的ADC測量結(jié)果的特性示意圖；

圖6為本申請一實施例提供的溫度檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為本申請一實施例提供的溫度檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8為本申請一實施例提供的溫度檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；