[發明專利]數據處理方法、溫度檢測電路及電子設備有效
| 申請號： | 202010470553.9 | 申請日： | 2020-05-28 |
| 公開（公告）號： | CN111504491B | 公開（公告）日： | 2022-05-10 |
| 發明（設計）人： | 李清泉 | 申請（專利權）人： | 為麥智能科技(天津)有限公司 |
| 主分類號： | G01K7/16 | 分類號： | G01K7/16;G01K7/22;G01K7/24 |
| 代理公司： | 北京太合九思知識產權代理有限公司 11610 | 代理人： | 柴艷波;劉戈 |
| 地址： | 300000 天津市天津自貿試*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 數據處理 方法 溫度 檢測 電路 電子設備 | ||
1.一種溫度檢測電路，其特征在于，包括：被測電阻、第一參考電阻、檢測裝置以及第一開關電路、第一校準電阻、第二校準電阻、第三開關電路、第三參考電阻與第三校準電阻；
所述第一開關電路包括第五模擬開關與第六模擬開關；
所述第五模擬開關具有第十一連接點與第十二連接點，所述第十一連接點與所述第一參考電阻的一端以及所述第一校準電阻的一端連接，連接于所述第一參考電阻與所述第一校準電阻之間；所述第十二連接點與所述檢測裝置的第三輸入端連接；
所述第六模擬開關具有第十三連接點與第十四連接點，所述第十三連接點與所述被測電阻的一端以及所述第二校準電阻的一端連接，連接于所述被測電阻與所述第二校準電阻之間；所述第十四連接點與所述第三輸入端連接；
所述第三開關電路包括第七模擬開關；
所述第七模擬開關具有第十五連接點與第十六連接點，所述第十五連接點與所述第三參考電阻的一端以及所述第三校準電阻的一端連接，連接于所述第三參考電阻與所述第三校準電阻之間；所述第十六連接點與所述第三輸入端連接；
所述檢測裝置通過所述第一開關電路與所述被測電阻及所述第一參考電阻連接，以及通過所述第三開關電路與所述第三參考電阻連接，所述檢測裝置用于：
獲取所述被測電阻對應的采樣值；
獲取所述第一參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應的采樣值、所述第三參考電阻的電阻值以及所述第三參考電阻對應的采樣值；
根據所述第一參考電阻的電阻值、所述第三參考電阻的電阻值、所述第一參考電阻對應的采樣值以及所述第三參考電阻對應的采樣值確定第三數值；利用所述第三數值及所述被測電阻對應的采樣值，得到所述被測電阻的電阻值；
其中，在確定第三數值時，根據公式（1）
（1）
得到第三數值k/VREF與b/VREF；
在確定所述被測電阻的電阻值時，將k/VREF與b/VREF代入公式（2）：
k*ADT+b=VREF*(RT/(RT+R02))（2），得到所述被測電阻的電阻值RT；
其中，VREF為激勵電源的電壓，AD0為第一參考電阻對應的采樣值，AD2'為第三參考電阻對應的采樣值，R01為第一校準電阻的阻值，R02為第二校準電阻的阻值，R03為第三校準電阻的阻值，R1為第一參考電阻的阻值，R2'為第三參考電阻的阻值；k是因為工藝偏差導致的增益誤差系數，b為零點偏移的系數；所述ADT為所述被測電阻的采樣值。
2.根據權利要求1所述的溫度檢測電路，其特征在于，所述檢測裝置的第四輸入端與所述第十一連接點連接，或所述檢測裝置的第四輸入端接地。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于為麥智能科技(天津)有限公司，未經為麥智能科技(天津)有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010470553.9/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
