[發明專利]提升固態硬盤數據通路可靠性的方法、裝置、計算機設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202010467759.6 | 申請日: | 2020-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN111625199B | 公開(公告)日: | 2023-07-04 |
| 發明(設計)人: | 高灣灣;臧鑫;馮元元 | 申請(專利權)人: | 深圳憶聯信息系統有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/06 | 分類號: | G06F3/06;G06F11/10 |
| 代理公司: | 深圳市精英專利事務所 44242 | 代理人: | 巫苑明 |
| 地址: | 518067 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 提升 固態 硬盤數據 通路 可靠性 方法 裝置 計算機 設備 存儲 介質 | ||
1.提升固態硬盤數據通路可靠性的方法,其特征在于,包括以下步驟:
NVMe接收主機發出的命令;
判斷主機發出的命令是否為寫命令;
若為寫命令,則NVMe將待寫入數據從主機取出,并對待寫入數據增加校驗位,將增加校驗位后的待寫入數據存儲至DRAM,同時將寫命令傳遞至FTL;
FTL根據寫命令更新映射表,并將寫命令傳遞至NFC;
NFC從DRAM中取出待寫入數據,并對待寫入數據進行校驗;
判斷待寫入數據校驗是否通過;
若是通過,將待寫入數據寫入閃存中;
若未通過,則進行錯誤處理;
其中,NVMe對每筆從主機到DRAM的數據,即待寫入數據,均調用校驗模塊,在寫入DRAM時加入校驗比特,具體開銷由校驗算法決定;校驗算法為奇偶校驗算法、漢明校驗算法、MD5校驗算法、異或校驗算法、循環冗余校驗算法的其中一種,校驗位為校驗比特,其比特大小根據實際需要進行設定;其中,NFC從DRAM中取出待寫入數據時,調用校驗模塊進行檢錯,使用同一校驗算法對該筆數據重新進行校驗,再跟DRAM中已有的校驗比特進行對比。
2.根據權利要求1所述的提升固態硬盤數據通路可靠性的方法,其特征在于,所述步驟“判斷主機發出的命令是否為寫命令”中,若不為寫命令,則NVMe將主機發出的命令傳遞至FTL;
FTL根據命令查詢映射表中的對應項,將映射結果更新至命令中,并將更新后的命令傳遞至NFC;
NFC將待讀取數據從閃存中讀出,并對待讀取數據增加校驗位,將增加校驗位后的待讀取數據存儲至DRAM,同時將命令處理結果通過FTL傳遞至NVMe;
NVMe從DRAM中取出待讀取數據,并對待讀取數據進行校驗;
判斷待讀取數據校驗是否通過;
若是通過,將待讀取數據搬移至主機緩存中;
若未通過,則進行錯誤處理。
3.根據權利要求2所述的提升固態硬盤數據通路可靠性的方法,其特征在于,所述NVMe通過PCIE接口將待寫入數據從主機取出或將待讀取數據搬移至主機緩存中。
4.根據權利要求3所述的提升固態硬盤數據通路可靠性的方法,其特征在于,所述錯誤處理包括以下步驟:
對主機發出的命令重新生成,并對重新生成的命令進行校驗;
判斷重新生成的命令校驗是否通過;
若是通過,將返回執行步驟“判斷主機發出的命令是否為寫命令”;
若未通過,則傳遞給主機,設備出現了錯誤的提示,主機對設備進行復位。
5.提升固態硬盤數據通路可靠性的裝置,其特征在于,包括:接收單元,第一判斷單元,取出增加存儲傳遞單元,更新傳遞單元,第一取出校驗單元,第二判斷單元,寫入單元,及處理單元;
所述接收單元,用于NVMe接收主機發出的命令;
所述第一判斷單元,用于判斷主機發出的命令是否為寫命令;
所述取出增加存儲傳遞單元,用于NVMe將待寫入數據從主機取出,并對待寫入數據增加校驗位,將增加校驗位后的待寫入數據存儲至DRAM,同時將寫命令傳遞至FTL;
所述更新傳遞單元,用于FTL根據寫命令更新映射表,并將寫命令傳遞至NFC;
所述第一取出校驗單元,用于NFC從DRAM中取出待寫入數據,并對待寫入數據進行校驗;
所述第二判斷單元,用于判斷待寫入數據校驗是否通過;
所述寫入單元,用于將待寫入數據寫入閃存中;
所述處理單元,用于對主機發出的命令進行錯誤處理;
其中,NVMe對每筆從主機到DRAM的數據,即待寫入數據,均調用校驗模塊,在寫入DRAM時加入校驗比特,具體開銷由校驗算法決定;校驗算法為奇偶校驗算法、漢明校驗算法、MD5校驗算法、異或校驗算法、循環冗余校驗算法的其中一種,校驗位為校驗比特,其比特大小根據實際需要進行設定;其中,NFC從DRAM中取出待寫入數據時,調用校驗模塊進行檢錯,使用同一校驗算法對該筆數據重新進行校驗,再跟DRAM中已有的校驗比特進行對比。
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