[發(fā)明專利]鏡頭雜光測試裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010466537.2
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111610003B
• 公開（公告）日: 2023-05-05
• 發(fā)明（設計）人: 宋文寶;史柴源
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京鴻元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11327
• 代理人: 王迎;袁文婷

本發(fā)明提供一種鏡頭雜光測試裝置及方法，其中的裝置包括測試系統(tǒng)、與測試系統(tǒng)連接的顯示屏幕和探測器，以及設置在顯示屏幕和探測器之間的成像鏡頭；其中，待測試鏡頭設置在成像鏡頭和顯示屏幕之間，探測器設置在成像鏡頭遠離待測試鏡頭的一側(cè)，顯示屏幕發(fā)出的光線依次經(jīng)過待測試鏡頭、成像鏡頭后，到達探測器；測試系統(tǒng)用于控制顯示屏幕的發(fā)光區(qū)域，以在顯示屏幕上形成測試區(qū)域，在探測器上形成與測試區(qū)域?qū)某上駞^(qū)域；根據(jù)成像區(qū)域的照度變化，確定待測試鏡頭在測試區(qū)域的雜光系數(shù)。利用上述發(fā)明能夠簡單、快速的實現(xiàn)對逆成像類鏡頭的雜光測試作業(yè)，鏡頭測試準確度高、適用范圍廣。

技術領域

本發(fā)明涉及光學產(chǎn)品測試技術領域，更為具體地，涉及一種鏡頭雜光測試裝置及方法。

背景技術

目前，在手機鏡頭、安防攝像頭等光學產(chǎn)品中普遍存在雜光的現(xiàn)象，雜光主要是由于環(huán)境中各個角度的光線在鏡頭的鏡片、鏡筒內(nèi)表面、隔圈等結(jié)構(gòu)中進行折射、反射等光路活動而產(chǎn)生的，其不僅影響鏡頭的成像品質(zhì)，嚴重情況下還會影響用戶體驗。

為此，在光學鏡頭生產(chǎn)或者出廠時，會先進行雜光檢測，獲取鏡頭的雜光系數(shù)，雜光系數(shù)是評價光學鏡頭雜光抑制性能的一個重要指標，現(xiàn)有雜光系數(shù)的測試方法大多針對攝影鏡頭等正向成像鏡頭，對于AR、VR等逆成像類投影鏡頭雜光系數(shù)的測試方法較少，要么直接采用肉眼檢測，要么測試裝置過于繁瑣、測試過程復雜。

為此，目前亟需一種能夠簡單、快速地對逆成像類鏡頭進行雜光系數(shù)檢測的測試裝置及方法。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種鏡頭雜光測試裝置及方法，以解決目前采用肉眼或特殊裝置進行雜光測試存在的測試精度低或者測試裝置繁瑣、過程復雜等問題。

本發(fā)明提供的鏡頭雜光測試裝置，包括測試系統(tǒng)、與測試系統(tǒng)連接的顯示屏幕和探測器，以及設置在顯示屏幕和探測器之間的成像鏡頭；其中，待測試鏡頭設置在成像鏡頭和顯示屏幕之間，探測器設置在成像鏡頭遠離待測試鏡頭的一側(cè)，顯示屏幕發(fā)出的光線依次經(jīng)過待測試鏡頭、成像鏡頭后，到達探測器；測試系統(tǒng)用于控制顯示屏幕的發(fā)光區(qū)域，以在顯示屏幕上形成測試區(qū)域，在探測器上形成與測試區(qū)域?qū)某上駞^(qū)域；根據(jù)成像區(qū)域的照度變化，確定待測試鏡頭在測試區(qū)域的雜光系數(shù)。

此外，優(yōu)選的技術方案是，成像鏡頭的視場角不小于待測試鏡頭的視場角，和/或者成像鏡頭的入瞳與待測試鏡頭的出瞳相匹配。

此外，優(yōu)選的技術方案是，待測試鏡頭為像方遠心鏡頭。

此外，優(yōu)選的技術方案是，測試區(qū)域為規(guī)則多邊形或者圓形。

此外，優(yōu)選的技術方案是，測試區(qū)域在顯示屏幕上呈均勻分布狀態(tài)；或者，測試區(qū)域分布在顯示屏幕的四個角部位置和中心位置。

此外，優(yōu)選的技術方案是，測試區(qū)域的邊長或直徑為顯示屏幕的邊長的8％～12％。

此外，優(yōu)選的技術方案是，探測器為CCD或CMOS。

此外，優(yōu)選的技術方案是，待測試鏡頭為AR投影鏡頭或者VR投影鏡頭。

此外，優(yōu)選的技術方案是，顯示屏幕為待測試鏡頭的自帶屏幕。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種鏡頭雜光測試方法，利用上述鏡頭雜光測試裝置對待測試鏡頭進行雜光測試，方法包括：通過測試系統(tǒng)控制顯示屏幕的測試區(qū)域不發(fā)光，并讀取探測器上的成像區(qū)域的第一照度；控制顯示屏幕的整個區(qū)域發(fā)光，再次讀取探測器上的成像區(qū)域的第二照度；根據(jù)第一照度和第二照度確定待測試鏡頭在測試區(qū)域的雜光系數(shù)。

利用上述鏡頭雜光測試裝置及方法，通過測試系統(tǒng)控制顯示屏幕上的測試區(qū)域的發(fā)光情況，進而在探測系統(tǒng)上形成與測試區(qū)域?qū)某上駞^(qū)域，并在調(diào)整測試區(qū)域的發(fā)光狀態(tài)時，獲取成像區(qū)域的照度變化，進而確定待測試鏡頭在測試區(qū)域的雜光系數(shù)，可實現(xiàn)對逆成像鏡頭的雜光系數(shù)測試，裝置結(jié)構(gòu)簡單、測試精度高、速度快。