[發明專利]鏡頭雜光測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202010466537.2
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111610003B
• 公開（公告）日: 2023-05-05
• 發明（設計）人: 宋文寶;史柴源
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327
• 代理人: 王迎;袁文婷

1.一種鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，置于暗室或者暗箱中進行測試，所述鏡頭雜光測試裝置包括測試系統、與所述測試系統連接的顯示屏幕和探測器，以及設置在所述顯示屏幕和所述探測器之間的成像鏡頭；其中，

待測試鏡頭為逆成像鏡頭，所述待測試鏡頭設置在所述成像鏡頭和所述顯示屏幕之間，所述探測器設置在所述成像鏡頭遠離所述待測試鏡頭的一側，所述顯示屏幕發出的光線依次經過所述待測試鏡頭、所述成像鏡頭后，到達所述探測器；

所述測試系統用于控制所述顯示屏幕的發光區域，以在所述顯示屏幕上形成測試區域，在所述探測器上形成與所述測試區域對應的成像區域，所述測試區域的位置或者形狀通過所述測試系統進行控制及調節；其中，

所述測試區域在所述顯示屏幕上呈均勻分布狀態；或者，所述測試區域分布在所述顯示屏幕的四個角部位置和中心位置；并且，

所述測試區域的邊長或直徑為所述顯示屏幕的邊長的8％～12％；

根據所述成像區域的照度變化，確定所述待測試鏡頭在所述測試區域的雜光系數。

2.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述成像鏡頭的視場角不小于所述待測試鏡頭的視場角，和/或者所述成像鏡頭的入瞳與所述待測試鏡頭的出瞳相匹配。

3.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述待測試鏡頭為像方遠心鏡頭。

4.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述測試區域為規則多邊形或者圓形。

5.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述探測器為CCD或CMOS。

6.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述待測試鏡頭為AR投影鏡頭或者VR投影鏡頭。

7.如權利要求1所述的鏡頭雜光測試裝置，其特征在于，

所述顯示屏幕為所述待測試鏡頭的自帶屏幕。

8.一種鏡頭雜光測試方法，其特征在于，利用如權利要求1至7任一項所述的鏡頭雜光測試裝置對待測試鏡頭進行雜光測試，所述方法包括：

通過測試系統控制顯示屏幕的測試區域不發光，并讀取探測器上的成像區域的第一照度；

控制所述顯示屏幕的整個區域發光，再次讀取所述探測器上的成像區域的第二照度；

根據所述第一照度和所述第二照度確定所述待測試鏡頭在所述測試區域的雜光系數。