[發明專利]測試架構及其測試方法

在審

• 申請號: 202010466525.X
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN113740627A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 郭建文
• 申請（專利權）人: 仁寶電腦工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 黃艷;鄭特強

本公開是提供一種測試架構及其測試方法，測試架構包含待測電器裝置、測試治具及控制系統，且待測電器裝置的待測插頭上具有標記待測電器裝置的電源規格的條碼，故于待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的頂針相接觸時，控制系統根據掃描信號將適用于待測插頭的電源，經由對應的電源插座傳送至待測插頭以對待測電器裝置進行測試，故測試架構僅需設置單一的測試治具，測試治具根據條碼而提供對應的電源，以測試具有相異規格的待測插頭的多個相異的待測電器裝置，以降低生產及人力成本，且待測電器裝置的電器特性不易損毀。

技術領域

本申請公開一種測試架構及其測試方法，特別涉及一種降低測試成本及避免損毀待測電器裝置的電器特性的測試架構及其測試方法。

背景技術

目前，工廠在生產電器產品后，利用測試治具對電器產品進行測試，且由于現行的電器產品根據適用的國別及家用電源規格，而具有相異種類的待測插頭，因此工廠內的測試治具提供相異的家用電源規格對具有不同待測插頭的不同電器產品進行測試，以確保每一種電器產品于對應的家用電源規格下可正常使用。

現行的第一種測試方法是提供多種不同的測試治具，且每一種測試治具對應單一規格的電器產品以提供對應的一種家用電源規格，借此測試具有對應待測插頭的電器產品，然而，這種方法因需具備多種不同的測試治具，才能對各種不同規格的電器產品測試，導致測試成本提高。現行的第二種方法則是提供一種單一測試治具，該測試治具包含可拆卸更換的多個測試接頭，當測試治具用以測試不同電器產品時，必須手動調整提供給待測電器裝置的家用電源規格，并且需手動更換對應于該家用電源規格的測試接頭，然而，這種測試方法容易導致調整家用電源規格時或更換測試接頭時發生錯誤，進而使得被測試的電器產品的電器特性損毀。

因此，如何發展一種克服上述缺點的測試架構及其測試方法，實為目前迫切的需求。

發明內容

本公開的目的在于提供一種測試架構及其測試方法，其降低測試成本及避免損毀電器產品的電器特性。

為達上述目的，本公開的一較廣實施方式為提供一種測試架構，與電源供應器電連接，電源供應器提供多個具有相異電源規格的電源，測試架構包含待測電器裝置、測試治具及控制系統。待測電器裝置包含待測插頭，待測插頭具有條碼，條碼注記包含待測電器裝置的待測插頭適用的電源規格的信息。測試治具與電源供應器電連接，且包含基座及插座集成。插座集成包含多個頂針，設置于基座上，多個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的多個電源插座，而待測插頭根據待測電器裝置的電源規格而適用于多個電源插座中其中之一電源插座，每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器中對應的電源進行供電。控制系統與電源供應器電連接，且包含掃描器及計算機。掃描器用以掃描條碼，并產生掃描信號。計算機與掃描器及電源供應器電連接，于待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的多個頂針相接觸時，計算機根據掃描信號確認待測插頭所適用的電源規格，進而驅使電源供應器所提供的多個電源中適用于待測插頭的電源，經由對應的電源插座的多個頂針傳送至待測插頭，以對待測電器裝置進行供電，借此測試待測電器裝置是否正常運行。

為達上述目的，本公開的另一較廣實施方式為提供一種測試方法，適用于測試架構，測試架構與電源供應器電連接，電源供應器提供多個具有相異電源規格的電源，測試架構包含測試治具，測試治具與電源供應器電連接，測試治具包含插座集成，插座集成中包含多個頂針，多個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的多個電源插座。測試方法包含下列步驟，首先，提供待測電器裝置，待測電器裝置包含待測插頭，待測插頭具有條碼，條碼注記包含待測插頭適用的電源規格的信息，其中待測插頭根據待測電器裝置的電源規格而適用于多個電源插座中其中之一電源插座，其中每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器中對應的電源進行供電。接著，掃描待測插頭上的條碼，以確認待測插頭根據待測電器裝置的電源規格，并根據確認結果產生掃描信號。接著，于待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的多個頂針相接觸時，根據掃描信號確認待測插頭所適用的電源規格，進而驅使電源供應器所提供的多個電源中適用于待測插頭的電源，經由對應的電源插座的多個頂針傳送至待測插頭，以對待測插頭進行供電，借此測試待測電器裝置是否正常運行。