[發明專利]測試架構及其測試方法

在審

• 申請號: 202010466525.X
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN113740627A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 郭建文
• 申請（專利權）人: 仁寶電腦工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 黃艷;鄭特強

1.一種測試架構，與一電源供應器電連接，該電源供應器提供具有相異電源規格的多個電源，且該測試架構包含：

一待測電器裝置，包含一待測插頭，該待測插頭具有一條碼，該條碼注記包含該待測電器裝置的該待測插頭適用的該電源規格的信息；

一測試治具，與該電源供應器電連接，且包含：

一基座；及

一插座集成，包含多個頂針，設置于該基座上，其中所述多個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的多個電源插座，而該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格而適用于所述多個電源插座中其中之一電源插座，其中每一電源插座根據對應的該電源規格而由該電源供應器中對應的該電源進行供電；以及

一控制系統，與該電源供應器電連接，且包含：

一掃描器，用以掃描該條碼，并產生一掃描信號；及

一計算機，與該掃描器及該電源供應器電連接，于該待測插頭與該插座集成中所適用的該電源插座的所述多個頂針相接觸時，該計算機根據該掃描信號確認該待測插頭所適用的該電源規格，進而驅使該電源供應器所提供的所述多個電源中適用于該待測插頭的該電源，經由對應的該電源插座的所述多個頂針傳送至該待測插頭，以對該待測電器裝置進行供電，借此測試該待測電器裝置是否正常運行。

2.如權利要求1所述的測試架構，其中該測試架構還包含一開關單元，與該計算機電連接，且連接于該電源供應器及多個電源插座的其中之一電源插座之間，該計算機根據該掃描信號控制該開關單元進行導通路徑的切換，使得該電源供應器所提供的所述多個電源中適用于該待測插頭的該電源，經由該開關單元及對應的該電源插座的所述多個頂針傳送至該待測插頭。

3.如權利要求1所述的測試架構，其中該待測插頭內設置相連接的一USB端及一存儲器，其中該待測電器裝置的該電源規格的信息經由該USB端寫入該存儲器中。

4.如權利要求3所述的測試架構，其中該控制系統還包含一輸入輸出接口，該輸入輸出接口經由該USB端讀取該存儲器內關于該待測電器裝置的該電源規格的信息，并將讀取結果傳送至該計算機，使該計算機確認適用于該待測插頭的該電源規格。

5.如權利要求1所述的測試架構，其中該測試治具還包含一接觸開關，該接觸開關設置于該基座上，該待測插頭包含一插頭本體及多個導電部，所述多個導電部設置于該插頭本體上，該插頭本體具有一本體高度，每一導電部具有一導電部高度，其中該待測插頭適用于巴西電源規格，且該接觸開關突出于該基座的一第一面的高度大于該待測插頭適用的該頂針的高度與該導電部的該導電部高度之和，而當該待測插頭與適用于巴西電源規格的所述多個頂針相接觸時，該待測插頭的該插頭本體按壓該接觸開關，而該接觸開關產生一形變量，使得該接觸開關產生一接觸信號，該計算機根據該掃描信號及該接觸信號控制一開關單元做路徑切換，使得巴西電源規格的該電源與對應的該電源插座經由該開關單元而連接導通。

6.如權利要求1所述的測試架構，其中該條碼由二維條碼構成。

7.一種測試方法，適用于一測試架構，該測試架構與一電源供應器電連接，該電源供應器提供多個具有相異電源規格的電源，該測試架構包含一測試治具，測試治具與該電源供應器電連接，該測試治具包含一插座集成，該插座集成中包含多個頂針，所述多個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的多個電源插座，其中該測試方法包含：

(a)提供一待測電器裝置，該待測電器裝置包含一待測插頭，該待測插頭具有一條碼，該條碼注記包含該待測插頭適用的該電源規格的信息，其中該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格而適用于所述多個電源插座中其中之一電源插座，其中每一電源插座根據對應的該電源規格而由該電源供應器中對應的該電源進行供電；

(b)掃描該待測插頭上的該條碼，并產生一掃描信號，以根據該掃描信號確認該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格；以及

(c)于該待測插頭與該插座集成中所適用的該電源插座的所述多個頂針相接觸時，根據該掃描信號確認該待測插頭所適用的該電源規格，進而驅使該電源供應器所提供的所述多個電源中適用于該待測插頭的該電源，經由對應的該電源插座的所述多個頂針傳送至該待測插頭，以對該待測插頭進行供電，借此測試該待測電器裝置是否正常運行。