[發明專利]一種IC封裝裝片工藝中框架狀態管理方法和系統在審
| 申請號: | 202010462100.1 | 申請日: | 2020-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN111653505A | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發明(設計)人: | 徐祖峰;丁小果;劉靜 | 申請(專利權)人: | 南京泰治自動化技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;G06K7/14 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 常虹 |
| 地址: | 210012 江蘇省南京市雨花*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ic 封裝 工藝 框架 狀態 管理 方法 系統 | ||
1.一種IC封裝裝片工藝中框架狀態管理方法,其特征在于,包括:
(1)裝片機臺作業前:確定IC封裝作業的工序,并保存在MES中;
確定批次號,將所述批次號下的所有框架通過打標機在框架上打上二維碼;建立工序、批次號和框架上二維碼的綁定關系;
裝片機臺掃描框架上的二維碼,根據綁定關系從MES中獲取當前工序currentStep_0;
確認currentStep_0所需機型為裝片機臺,獲取當前框架的狀態數據StripMap,所述StripMap中包含框架上的二維碼信息StripID、框架中所有產品的狀態數據BinCode_0和框架作業狀態;
裝片機臺進行作業;
(2)裝片機臺作業后,根據框架中所有產品的狀態生成狀態數據BinCode_1;
再次根據框架上二維碼和綁定關系獲取MES中的當前工序currentStep_1;
確認currentStep_1所需機型為裝片機臺;
確認currentStep_1與currentStep_0是否一致,如不一致,則當前框架有提前過賬;如一致,根據裝片作業前后框架中產品狀態數據BinCode_0、BinCode_1和當前機臺類型,修改當前框架狀態數據StripMap中的產品狀態數據,并修改當前框架作業狀態為當前工序currentStep_1已完成。
2.根據權利要求1所述的IC封裝裝片工藝中框架狀態管理方法,其特征在于,當產品轉賬時,首先根據框架二維碼和綁定關系查詢所述框架對應的批次號;查詢所述批次號下的所有框架,確認所有框架狀態數據中框架作業狀態均為當前工序currentStep_1已完成,進行產品轉賬。
3.根據權利要求1所述的IC封裝裝片工藝中框架狀態管理方法,其特征在于,工序、批次號和框架上二維碼的綁定關系以文件形式保存。
4.根據權利要求1所述的IC封裝裝片工藝中框架狀態管理方法,其特征在于,預先設置根據裝片作業前后框架中產品狀態數據BinCode_0、BinCode_1和當前機臺類型修改框架狀態數據StripMap中的產品狀態數據的轉換規則,并保存在數據庫中;
當裝片機臺作業完成后,確認當前框架無提前過賬,將裝片作業前后框架中產品狀態數據BinCode_0、BinCode_1和當前機臺類型作為查詢條件,在數據庫中查詢轉換規則,從而更新當前框架狀態數據StripMap中的產品狀態數據。
5.一種IC封裝裝片工藝中框架狀態管理系統,其特征在于,包括:
綁定關系建立和保存模塊,用于建立和保存工序、批次號和框架上二維碼的綁定關系;
數據庫,用于存儲機臺ID和機臺類型、框架狀態數據;
產品狀態數據生成模塊,用于在裝片機臺作業后,根據框架中所有產品的狀態生成狀態數據BinCode_1;
服務器,用于根據綁定關系從MES中獲取當前工序,并確認裝片機臺作業前后所獲取的當前工序是否一致;
框架狀態更新模塊,用于更新框架狀態數據StripMap。
6.根據權利要求5所述的IC封裝裝片工藝中框架狀態管理系統,其特征在于,所述服務器還用于在產品轉賬時,首先根據框架二維碼和綁定關系查詢所述框架對應的批次號;查詢所述批次號下的所有框架,確認所有框架狀態數據中框架作業狀態均為當前工序currentStep_1已完成,進行產品轉賬。
7.根據權利要求5所述的IC封裝裝片工藝中框架狀態管理系統,其特征在于,綁定關系建立和保存模塊將工序、批次號和框架上二維碼的綁定關系以文件形式保存。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





