[發明專利]極片涂布尺寸的檢測控制系統和方法

有效

• 申請號: 202010455801.2
• 申請日: 2020-05-26
• 公開（公告）號: CN111495702B
• 公開（公告）日: 2023-10-27
• 發明（設計）人: 梁旭飛;雷振宇
• 申請（專利權）人: 湖南領湃達志科技股份有限公司;湖南領湃新能源科技有限公司;衡陽領湃新能源科技有限公司;湖南領湃新能源研究院有限公司;湖南領湃儲能科技有限公司
• 主分類號: B05C11/00
• 分類號: B05C11/00;G01D21/02
• 代理公司: 北京京華知聯專利代理事務所(普通合伙) 11991
• 代理人: 李姣姣

1.一種極片涂布尺寸的檢測控制系統，應用于極片雙面涂布系統，所述極片雙面涂布系統包括順序布置的第一面涂布裝置、第一面涂布后烘箱、第二面涂布裝置以及第二面涂布后烘箱；其特征在于，所述極片涂布尺寸的檢測控制系統包括：

適于檢測極片第一面的涂布干膜尺寸的第一干膜檢測裝置，布置于所述第一面涂布后烘箱和第二面涂布裝置之間；

適于檢測極片第二面的涂布濕膜尺寸的濕膜檢測裝置，布置于所述第二面涂布裝置和第二面涂布后烘箱之間；

適于檢測極片第二面的涂布干膜尺寸的第二干膜檢測裝置，布置于所述第二面涂布后烘箱之后；

適于根據所述第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布濕膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸控制所述第一面涂布裝置、第二面涂布裝置進行調整的控制裝置，所述控制裝置與所述第一干膜檢測裝置、濕膜檢測裝置和第二干膜檢測裝置分別連接。

2.根據權利要求1所述的極片涂布尺寸的檢測控制系統，其特征在于，所述控制裝置的控制邏輯包括：

在所述第一面的涂布干膜尺寸超過工藝規格范圍時調整所述第一面涂布裝置以控制所述第一面的涂布干膜尺寸在工藝規格范圍內；

以所述第一面的涂布干膜尺寸為基準，調整所述第二面涂布裝置以控制所述第二面的涂布濕膜尺寸在工藝規格范圍內；

比較所述第二面的涂布濕膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，調整所述第二面涂布裝置以控制所述第二面的涂布干膜尺寸在工藝規格范圍內。

3.根據權利要求1所述的極片涂布尺寸的檢測控制系統，其特征在于，還包括適于調整極片位置的糾偏裝置，布置于所述第一面涂布后烘箱和第二面涂布裝置之間；所述控制裝置還與糾偏裝置連接，適于比較所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并調整所述糾偏裝置以控制所述第一面和第二面的涂布干膜邊緣對齊度在工藝規格范圍內。

4.根據權利要求3所述的極片涂布尺寸的檢測控制系統，其特征在于，所述糾偏裝置包括：適于檢測極片邊緣位置的糾偏傳感器、糾偏電機、由所述糾偏電機驅動的糾偏輥以及連接所述糾偏傳感器和糾偏電機的糾偏控制器；所述控制裝置與所述糾偏控制器連接。

5.根據權利要求1所述的極片涂布尺寸的檢測控制系統，其特征在于，所述第一干膜檢測裝置還適于檢測極片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷，所述濕膜檢測裝置還適于檢測極片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷，所述第二干膜檢測裝置還適于檢測極片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。

6.一種極片涂布尺寸的檢測控制方法，其特征在于，包括：

在極片第一面涂布和烘干后，檢測極片第一面的涂布干膜尺寸；

在極片第二面涂布后烘干前，檢測極片第二面的涂布濕膜尺寸；

在極片第二面涂布和烘干后，檢測極片第二面的涂布干膜尺寸；

根據所述極片第一面的涂布干膜尺寸、極片第二面的涂布濕膜尺寸和極片第二面的涂布干膜尺寸，調整對極片的雙面涂布控制。

7.根據權利要求6所述的極片涂布尺寸的檢測控制方法，其特征在于，所述根據所述極片第一面的涂布干膜尺寸、極片第二面的涂布濕膜尺寸和極片第二面的涂布干膜尺寸，調整對極片的雙面涂布控制包括：

在所述第一面的涂布干膜尺寸超過工藝規格范圍時調整所述極片第一面的涂布工藝以控制所述第一面的涂布干膜尺寸在工藝規格范圍內；

以所述第一面的涂布干膜尺寸為基準，調整所述極片第二面的涂布工藝以控制所述第二面的涂布濕膜尺寸在工藝規格范圍內；

比較所述第二面的涂布濕膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，調整所述極片第二面的涂布工藝以控制所述第二面的涂布干膜尺寸在工藝規格范圍內。

8.根據權利要求6所述的極片涂布尺寸的檢測控制方法，其特征在于，還包括：比較所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并調整極片第二面涂布前所述極片的位置以控制所述第一面和第二面的涂布干膜邊緣對齊度在工藝規格范圍內。

9.根據權利要求6所述的極片涂布尺寸的檢測控制方法，其特征在于，還包括：

檢測極片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷；

檢測極片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷；

檢測極片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。