[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010454921.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113725290A | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊廣立 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/73 | 分類號(hào): | H01L29/73;H01L29/10;H01L21/331 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣 |
| 地址: | 201203 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 形成 方法 | ||
一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,包括:襯底;位于襯底上的集電區(qū);位于集電區(qū)上的基區(qū),基區(qū)的摻雜類型與集電區(qū)的摻雜類型相反;位于基區(qū)內(nèi)的過渡區(qū),過渡區(qū)的摻雜類型與基區(qū)的摻雜類型相反,且過渡區(qū)的底部高于基區(qū)的底部,過渡區(qū)的頂部低于基區(qū)的頂部。由于過渡區(qū)可以作為集電區(qū)的延伸,進(jìn)而使得有效的基區(qū)變窄,從而增大電流放大系數(shù)β;在進(jìn)行集電區(qū)與發(fā)射區(qū)之間的擊穿電壓(BVceo)檢測(cè)時(shí),位于過渡區(qū)底部的基區(qū)會(huì)幫助過渡區(qū)耗盡,從而使得集電區(qū)與發(fā)射區(qū)之間的擊穿電壓增大。另外,集電區(qū)不能夠被過渡區(qū)簡(jiǎn)單的進(jìn)行取代,這是由于集電區(qū)將位于過渡區(qū)頂部和底部的基區(qū)進(jìn)行包圍,有效的隔絕電流直接流向襯底,避免了噪聲的產(chǎn)生。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法。
背景技術(shù)
雙極結(jié)型晶體管(BJT,Bipolar Junction Transistor)是半導(dǎo)體集成電路中的一種重要的半導(dǎo)體器件,雙極結(jié)型晶體管具有放大作用,廣泛應(yīng)用于工業(yè)以及消費(fèi)電子領(lǐng)域的各類電路設(shè)計(jì)中,例如,檢波電路、整流電路、放大電路、開關(guān)電路、穩(wěn)壓電路、信號(hào)調(diào)制電路等等。
按照雙極結(jié)型晶體管結(jié)構(gòu)的不同,可將雙極結(jié)型晶體管分為NPN類型和PNP類型兩種。雙極結(jié)型晶體管又稱為半導(dǎo)體三極管,其外部引出有三個(gè)極:集電極、發(fā)射極和基極,其中,集電極從雙極結(jié)型晶體管中的集電區(qū)引出,發(fā)射極從雙極結(jié)型晶體管中的發(fā)射區(qū)引出,基極從雙極結(jié)型晶體管中的基區(qū)引出。
然而,現(xiàn)有技術(shù)提供的雙極結(jié)型晶體管的電流放大系數(shù)β、以及集電區(qū)與發(fā)射區(qū)之間的擊穿電壓(BVceo)無法同時(shí)獲得增大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,可以使得電流放大系數(shù)β、以及集電區(qū)與發(fā)射區(qū)之間的擊穿電壓(BVceo)同時(shí)獲得增大。
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:襯底;位于所述襯底上的集電區(qū);位于所述集電區(qū)上的基區(qū),所述基區(qū)的摻雜類型與所述集電區(qū)的摻雜類型相反,且所述基區(qū)的底部高于所述集電區(qū)的底部;位于所述基區(qū)內(nèi)的過渡區(qū),所述過渡區(qū)的摻雜類型與所述基區(qū)的摻雜類型相反,且所述過渡區(qū)的底部高于所述基區(qū)的底部,所述過渡區(qū)的頂部低于所述基區(qū)的頂部;位于所述基區(qū)上的發(fā)射區(qū),所述發(fā)射區(qū)的摻雜類型與基區(qū)的摻雜類型相反,且所述發(fā)射區(qū)的底部高于所述基區(qū)的底部。
可選的,還包括:位于所述集電區(qū)上的集電極,所述集電極與集電區(qū)的摻雜類型相同,且集電極的摻雜濃度大于集電區(qū)的摻雜濃度;位于所述基區(qū)上的基極,所述基極與所述基區(qū)的摻雜類型相同,且所述基極的摻雜濃度大于所述基區(qū)的摻雜濃度。
可選的,還包括:位于所述基區(qū)上的環(huán)形隔離結(jié)構(gòu),所述環(huán)形隔離結(jié)構(gòu)包圍所述發(fā)射區(qū)和部分所述基區(qū),且所述環(huán)形隔離結(jié)構(gòu)的底部高于所述基區(qū)的底部。
可選的,還包括:位于所述基區(qū)和所述集電區(qū)上的第一隔離結(jié)構(gòu),所述第一隔離結(jié)構(gòu)環(huán)繞所述基區(qū),且所述第一隔離結(jié)構(gòu)底部高于基區(qū)底部;位于所述襯底和所述集電區(qū)上的第二隔離結(jié)構(gòu),所述第二隔離結(jié)構(gòu)環(huán)繞所述集電區(qū),且所述第二隔離結(jié)構(gòu)底部高于集電區(qū)底部。
可選的,所述集電區(qū)的摻雜類型為N型摻雜,所述基區(qū)的摻雜類型為P型摻雜,所述發(fā)射區(qū)的摻雜類型為N型摻雜,所述過渡區(qū)的摻雜類型為N型摻雜。
可選的,所述集電區(qū)的摻雜類型為P型摻雜,所述基區(qū)的摻雜類型為N型摻雜,所述發(fā)射區(qū)的摻雜類型為P型摻雜,所述過渡區(qū)的摻雜類型為P型摻雜。
可選的,所述N型摻雜的摻雜離子為N型離子,所述N型離子包括:磷離子或砷離子;所述P型摻雜的摻雜離子為P型離子,所述P型離子包括:硼離子或銦離子。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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