[發明專利]一種用于輝光放電質譜分析的金屬粉末制樣方法

在審

• 申請號: 202010442132.5
• 申請日: 2020-05-22
• 公開（公告）號: CN111551422A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 姚力軍;潘杰;邊逸軍;王學澤;溫毅博
• 申請（專利權）人: 寧波江豐電子材料股份有限公司
• 主分類號: G01N1/36
• 分類號: G01N1/36;G01N1/28;G01N1/34;G01N1/44;G01N27/68
• 代理公司: 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659
• 代理人: 王巖

1.一種用于輝光放電質譜分析的金屬粉末制樣方法，其特征在于，所述制樣方法包括：

將待測金屬粉末置于導電基體上，共同放入模具中，然后進行加熱加壓，金屬粉末鑲嵌到導電基體中，完成制樣。

2.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，所述金屬粉末包括鈦粉、銅粉或鋁粉中任意一種或至少兩種的組合；

優選地，所述金屬粉末的純度在99.9％以上；

優選地，所述金屬粉末的粒徑為50～500目。

3.根據權利要求1或2所述的制樣方法，其特征在于，所述導電基體包括低熔點金屬，優選為銦；

優選地，所述導電基體呈片狀或塊狀。

4.根據權利要求1-3任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述金屬粉末均勻分布于導電基體上；

優選地，所述金屬粉末與導電基體的質量比為1:(5～15)。

5.根據權利要求1-4任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述金屬粉末和導電基體放入模具前，導電基體和模具均先進行清洗；

優選地，所述清洗采用的清洗液為硝酸、氫氟酸和水的混合液；

優選地，所述清洗液中硝酸、氫氟酸和水的體積比為1:(1～1.5):(8～20)。

6.根據權利要求1-5任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述模具的形狀與導電基體相匹配；

優選地，所述模具的材料包括聚四氟乙烯。

7.根據權利要求1-6任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述加熱的溫度為130～150℃。

8.根據權利要求1-7任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述加壓壓力為5～8MPa。

9.根據權利要求1-8任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述金屬粉末嵌入到導電基體中的深度為0.5～1.5mm。

10.根據權利要求1-9任一項所述的制樣方法，其特征在于，所述制樣方法包括以下步驟：

(1)將導電基體和模具采用硝酸、氫氟酸和水的混合液進行清洗，所述混合液中硝酸、氫氟酸和水的體積比為1:(1～1.5):(8～20)；清洗完成后，將待測金屬粉末置于導電基體上；其中，所述金屬粉末包括鈦粉、銅粉或鋁粉中任意一種或至少兩種的組合，所述金屬粉末的純度在99.9％以上，粒徑為50～500目，所述導電基體包括低熔點金屬，呈片狀或塊狀，金屬粉末與導電基體的質量比為1:(5～15)；

(2)將金屬粉末和導電基體共同放入模具中，所述模具的形狀與導電基體相匹配，所述模具的材料包括聚四氟乙烯，然后進行加熱加壓，加熱的溫度為130～150℃，加壓壓力為5～8MPa，金屬粉末鑲嵌到導電基體中，完成制樣，所述金屬粉末嵌入到導電基體中的深度為0.5～1.5mm。