[發明專利]測試方法及測試系統

有效

• 申請號: 202010437379.8
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111983338B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 紀家銘
• 申請（專利權）人: 仁寶電腦工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R29/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張娜;劉芳

本發明提供一種測試方法及測試系統。測試方法包含針對待測裝置進行電磁測試，以判斷出待測裝置中的至少一異常區域；以及執行人工智能算法以依據待測裝置的至少一異常區域查詢智能數據庫，以取得建議修正結構。

技術領域

本發明涉及一種方法及系統，尤其涉及一種測試方法及測試系統。

背景技術

現有技術在針對待測裝置進行電磁相容性測試(ElectromagneticCompatibility，EMC)時，其感測的過程無法自動化地針對待測裝置的每個區域進行感測，來判斷出待測裝置的每個區域是否皆符合電磁相容性的規范。即使，在判斷出待測裝置的特定區域不符合電磁相容性的規范之后，現有技術更需仰賴人力通過盲目地嘗試錯誤的設計過程來逐步修正待測裝置。故現有技術在待測裝置的測試流程以及修正流程上，都有改善的必要。

發明內容

本發明提供一種測試方法及測試系統，有效率地針對待測裝置進行電磁測試，并提供建議修正結構，以改善現有技術的缺點。

本發明的測試方法包含針對待測裝置進行電磁測試，以判斷出待測裝置中的至少一異常區域；以及執行人工智能算法以依據待測裝置的至少一異常區域查詢智能數據庫，以取得建議修正結構。

本發明的測試系統，適于針對待測裝置進行測試，測試系統包含測試裝置、主控裝置及運算電路。測試裝置耦接待測裝置。測試裝置用來向待測裝置進行電磁測試。主控裝置耦接測試裝置。主控裝置控制測試裝置以進行電磁測試，并判斷出待測裝置中的至少一異常區域。運算電路耦接主控裝置并存儲有智能數據庫。運算電路執行人工智能算法以依據待測裝置的異常區域查詢智能數據庫，以取得建議修正結構。

基于上述，測試方法及測試系統可有效率地針對待測裝置進行電磁測試，并通過人工智能算法查詢智能數據庫以提供建議修正結構，進而改善現有技術的缺點。

附圖說明

圖1為本發明實施例一測試系統的方塊圖；

圖2A為本發明實施例一測試方法的流程圖；

圖2B為本發明實施例一測試方法的示意圖；

圖3A為本發明實施例在判斷一待測裝置的第一未選中區域及第一選中區域的示意圖；

圖3B為本發明實施例一在判斷待測裝置的第一未選中區域及第一選中區域的示意圖；

圖3C為本發明實施例在判斷一待測裝置的第一未選中區域及第一選中區域的示意圖；

圖3D為本發明實施例在判斷一待測裝置的第二未選中區域及第二選中區域的示意圖；

圖3E為本發明實施例在判斷一待測裝置的第三未選中區域及第三選中區域的示意圖；

圖3F為本發明實施例在標記一待測裝置中的待修正結構的示意圖。

附圖標記說明

1：修正系統

10：測試裝置

11：主控裝置

12：運算電路

120：智能數據庫

121：電路數據庫

122：布局數據庫

123：機構數據庫

2、2a、2b、2c、2d：待測裝置

S20、S21、S22～S24：步驟

A1、A3、A5：第一未選中區域

A1-1～A1-3、A5-1～A5-3、A7-1、A7-2、A9-1、A9-2：區域