[發(fā)明專利]測試方法及測試系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010437379.8 | 申請日： | 2020-05-21 |
| 公開（公告）號： | CN111983338B | 公開（公告）日： | 2023-07-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 紀家銘 | 申請（專利權(quán)）人： | 仁寶電腦工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人： | 張娜;劉芳 |
| 地址： | 中國臺灣臺北市內(nèi)湖*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種測試方法，包括：
將待測裝置區(qū)分為多個第一測試區(qū)域，針對所述待測裝置的各所述第一測試區(qū)域進行電磁測試，以由所述多個第一測試區(qū)域中判斷出所述待測裝置中包括第一選中區(qū)域的至少一異常區(qū)域，其中所述第一選中區(qū)域為進行所述電磁測試的過程中造成所述待測裝置產(chǎn)生異常的區(qū)域；以及
依據(jù)所述待測裝置的所述至少一異常區(qū)域的待修正結(jié)構(gòu)以及所述至少一異常區(qū)域所對應的異常條件查詢智能數(shù)據(jù)庫，其中所述智能數(shù)據(jù)庫記錄有多筆歷史資料，以由所述多筆歷史資料中判斷出與所述待測裝置發(fā)生異常的關(guān)聯(lián)性較高者作為建議修正結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其中所述電磁測試包括電磁耐受性測試及電磁干擾性測試的至少其中一者。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其中所述電磁測試為電磁耐受性測試，其中針對各所述第一測試區(qū)域依序進行所述電磁測試，以由所述多個第一測試區(qū)域中判斷出所述第一選中區(qū)域以作為所述至少一異常區(qū)域的步驟包括：
施加電磁信號于各所述第一測試區(qū)域，并依序遞增所述電磁信號的能量以于各所述第一測試區(qū)域進行多次測試；以及
在監(jiān)測到所述待測裝置發(fā)生異常狀態(tài)時，記錄所述待測裝置發(fā)生異常狀態(tài)時，施加于各所述第一測試區(qū)域的所述電磁信號的能量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，還包括：
當所記錄的施加于各所述第一測試區(qū)域的所述電磁信號的能量小于或等于第一預設(shè)能量時，選擇對應的各所述第一測試區(qū)域為所述第一選中區(qū)域，并記錄所述電磁信號的能量。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其中所述異常狀態(tài)為所述待測裝置發(fā)生圖像顯示異常、網(wǎng)絡連線異常及音效播放異常的至少其中一者。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試方法，其中還包括：
將所述第一選中區(qū)域區(qū)分為多個第二測試區(qū)域，并針對各所述第二測試區(qū)域進行所述電磁測試，以由所述多個第二測試區(qū)域中判斷出第二選中區(qū)域以作為第二異常區(qū)域。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其中由所述多個第二測試區(qū)域中判斷出所述第二選中區(qū)域的步驟包含：
施加電磁信號于各所述第二測試區(qū)域，并依序遞增所述電磁信號的能量以于各所述第二測試區(qū)域進行多次測試；
在監(jiān)測到所述待測裝置發(fā)生異常狀態(tài)時，記錄所述待測裝置發(fā)生異常狀態(tài)時，施加于各所述第二測試區(qū)域的所述電磁信號的能量；以及
當所記錄的施加于各所述第二測試區(qū)域的所述電磁信號的能量小于或等于第二預設(shè)能量時，選擇對應的各所述第二測試區(qū)域為所述第二選中區(qū)域，并記錄所述電磁信號的能量，
其中所述第二預設(shè)能量小于所述第一預設(shè)能量。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其中所述電磁測試為電磁干擾性測試，針對各所述第一測試區(qū)域依序進行所述電磁測試，以由所述多個第一測試區(qū)域中判斷出所述第一選中區(qū)域以作為所述至少一異常區(qū)域的步驟包括：
依序測量各所述第一測試區(qū)域所發(fā)出的干擾強度；以及
在測量到所述干擾強度大于或等于預設(shè)干擾強度時，選擇對應的各所述第一測試區(qū)域為所述第一選中區(qū)域。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其中依據(jù)所述待測裝置的所述至少一異常區(qū)域的所述待修正結(jié)構(gòu)以及所述至少一異常區(qū)域所對應的所述異常條件查詢所述智能數(shù)據(jù)庫的步驟還包括：
依據(jù)所述至少一異常區(qū)域標記出所述待測裝置的所述待修正結(jié)構(gòu)；以及
依據(jù)所述待修正結(jié)構(gòu)執(zhí)行人工智能算法以查詢所述智能數(shù)據(jù)庫。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其中所述智能數(shù)據(jù)庫包括電路數(shù)據(jù)庫、布局數(shù)據(jù)庫以及機構(gòu)數(shù)據(jù)庫。
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