[發明專利]一種射頻測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010435685.8
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111614412B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 臧其甫;王建;楊威;朱旭東;陳軍
• 申請（專利權）人: 上海華興數字科技有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京布瑞知識產權代理有限公司 11505
• 代理人: 李浩

本申請提供了一種射頻測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質，其中，所述射頻測試方法包括：向待測終端內部的采樣電路輸入測試電壓；在測試電壓作用下，監測采樣電路在射頻測試過程中所輸出的電壓波形；基于電壓波形，檢測采樣電路是否受到射頻干擾；在確定采樣電路未受到射頻干擾的情況下，測試待測終端的射頻參數，并基于射頻參數，確定待測終端的射頻性能。這樣，通過輸入測試電壓的方式進行測試，在射頻測試過程中可以確保待測終端內部的采樣電路不受到射頻干擾，使測試結果能夠準確地反映待測終端的射頻性能，從而為待測終端的后續優化提供方向和理論依據。

技術領域

本申請涉及測試技術領域，尤其是涉及一種射頻測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質。

背景技術

射頻測試是對終端的輻射性能進行測試的技術，測試結果用于反映產品的發射和接收性能，其中，空口輻射(Over The Air，OTA)是利用無線的方式(發射天線和接收天線)將待測終端與測試系統連接進行測試的，在測試過程中，通過模擬待測終端的無線信號在空氣中的傳輸場景，驗證從芯片到天線端的各種因素對整機性能的影響，由于OTA測試著重進行整機輻射性能方面的測試，逐漸成為人們重視和認可的測試項目。

但是，傳統的OTA測試中，采用的天線的發射功率會對測試樣品內部采樣電路產生一定的干擾，使得測試結果無法準確地反映待測終端的射頻性能，從而影響待測終端的后續優化。

發明內容

有鑒于此，本申請的目的在于提供一種射頻測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質，通過向待測終端內部的采樣電路輸入測試電壓，并基于采樣電路在射頻測試過程中所輸出的電壓波形，檢測采樣電路是否受到干擾，以確保在射頻測試過程中采樣電路的穩定性，使射頻測試結果能夠準確地反映待測終端的射頻性能，從而為待測終端的后續優化提供方向和理論依據。

本申請主要包括以下幾個方面：

第一方面，本申請實施例提供了一種射頻測試方法，所述射頻測試方法包括：

向待測終端內部的采樣電路輸入測試電壓；

在所述測試電壓作用下，監測所述采樣電路在射頻測試過程中所輸出的電壓波形；

基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾；

在確定所述采樣電路未受到射頻干擾的情況下，測試所述待測終端的射頻參數，并基于所述射頻參數，確定所述待測終端的射頻性能。

在一種可能的實施方式中，在所述基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾之后，所述射頻測試方法還包括：

在確定所述采樣電路受到射頻干擾的情況下，降低所述待測終端內部天線的發射功率，和/或，提高所述采樣電路的抗干擾性能。

在一種可能的實施方式中，所述基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾，包括：

確定所述電壓波形的紋波系數；

基于所述紋波系數與預設的紋波系數閾值的比較結果，檢測所述待測終端內部的采樣電路是否受到射頻干擾。

在一種可能的實施方式中，根據以下步驟確定所述紋波系數閾值：

基于預設的各測試檔位所對應的測試電壓和允許電壓限值，確定所述測試電壓所在的測試檔位，以及所述測試檔位對應的允許電壓限值；

基于所述測試電壓和允許電壓限值，確定紋波系數閾值。

在一種可能的實施方式中，所述基于所述紋波系數與預設的紋波系數閾值的比較結果，檢測所述待測終端內部的采樣電路是否受到射頻干擾，包括：

比較所述電壓波形的紋波系數與預設的紋波系數閾值的大小關系；