[發明專利]一種射頻測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010435685.8
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111614412B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 臧其甫;王建;楊威;朱旭東;陳軍
• 申請（專利權）人: 上海華興數字科技有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京布瑞知識產權代理有限公司 11505
• 代理人: 李浩

1.一種射頻測試方法，其特征在于，所述射頻測試方法包括：

向待測終端內部的采樣電路輸入測試電壓；

在所述測試電壓作用下，監測所述采樣電路在射頻測試過程中所輸出的電壓波形；

基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾，包括：

確定所述電壓波形的紋波系數；

基于所述紋波系數與預設的紋波系數閾值的比較結果，檢測所述待測終端內部的采樣電路是否受到射頻干擾；

在確定所述采樣電路未受到射頻干擾的情況下，測試所述待測終端的射頻參數，并基于所述射頻參數，確定所述待測終端的射頻性能。

2.根據權利要求1所述的射頻測試方法，其特征在于，在所述基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾之后，所述射頻測試方法還包括：

在確定所述采樣電路受到射頻干擾的情況下，降低所述待測終端內部天線的發射功率，和/或，提高所述采樣電路的抗干擾性能。

3.根據權利要求1所述的射頻測試方法，其特征在于，根據以下步驟確定所述紋波系數閾值：

基于預設的各測試檔位所對應的測試電壓和允許電壓限值，確定所述測試電壓所在的測試檔位，以及所述測試檔位對應的允許電壓限值；

基于所述測試電壓和允許電壓限值，確定紋波系數閾值。

4.根據權利要求1所述的射頻測試方法，其特征在于，所述基于所述紋波系數與預設的紋波系數閾值的比較結果，檢測所述待測終端內部的采樣電路是否受到射頻干擾，包括：

比較所述電壓波形的紋波系數與預設的紋波系數閾值的大小關系；

若所述電壓波形的紋波系數大于預設的紋波系數閾值，則判定所述待測終端內部的采樣電路受到射頻干擾；否則，判定所述待測終端內部的采樣電路未受到射頻干擾。

5.一種射頻測試裝置，其特征在于，所述射頻測試裝置包括：

輸入模塊，用于向待測終端內部的采樣電路輸入測試電壓；

監測模塊，用于在所述測試電壓作用下，監測所述采樣電路在射頻測試過程中所輸出的電壓波形；

檢測模塊，用于基于所述電壓波形，檢測所述采樣電路是否受到射頻干擾，包括：

紋波系數確定單元，用于確定所述電壓波形的紋波系數；

射頻干擾檢測單元，用于基于所述紋波系數與預設的紋波系數閾值的比較結果，檢測所述待測終端內部的采樣電路是否受到射頻干擾；

第一確定模塊，用于在確定所述采樣電路未受到射頻干擾的情況下，測試所述待測終端的射頻參數，并基于所述射頻參數，確定所述待測終端的射頻性能。

6.根據權利要求5所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述射頻測試裝置還包括：

第二確定模塊，用于在確定所述采樣電路受到射頻干擾的情況下，降低所述待測終端內部天線的發射功率，和/或，提高所述采樣電路的抗干擾性能。

7.一種電子設備，其特征在于，包括：處理器、存儲器和總線，所述存儲器存儲有所述處理器可執行的機器可讀指令，當電子設備運行時，所述處理器與所述存儲器之間通過總線通信，所述機器可讀指令被所述處理器執行時執行如權利要求1至4中任一項所述的一種射頻測試方法的步驟。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器運行時執行如權利要求1至4中任一項所述的一種射頻測試方法的步驟。