[發(fā)明專利]一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010435062.0
• 申請(qǐng)日: 2020-05-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111654691B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 常景洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO（重慶）智能科技有限公司
• 主分類號(hào): H04N17/00
• 分類號(hào): H04N17/00
• 代理公司: 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 賈偉;張穎玲

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)，該方法可以包括：基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；基于所獲得的多個(gè)關(guān)鍵字段值，確定所述待測(cè)設(shè)備的性能數(shù)據(jù)。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在相機(jī)(camera)測(cè)試領(lǐng)域，所關(guān)注的性能主要是各個(gè)模式(例如人像、夜景和視頻等)下camera的啟動(dòng)、切換、拍攝和退出動(dòng)作。目前，測(cè)試人員對(duì)camera進(jìn)行性能測(cè)試的流程如下：(1)測(cè)試人員將上位機(jī)與待測(cè)設(shè)備相連接，在上位機(jī)端開(kāi)啟測(cè)試工具；(2)測(cè)試人員根據(jù)要求操作手機(jī)，分析完成后將測(cè)試工具的分析結(jié)果導(dǎo)出；(3)當(dāng)需要測(cè)試多組數(shù)據(jù)時(shí)，重復(fù)步驟(2)。

這種性能測(cè)試流程具備以下缺點(diǎn)，比如由于現(xiàn)有測(cè)試工具只能抓取一段時(shí)間的性能數(shù)據(jù)，對(duì)概率性的性能問(wèn)題難以分析；而且抓取性能數(shù)據(jù)的過(guò)程存在不穩(wěn)定性，可能會(huì)因?yàn)椴僮鞣椒ā⒉僮鲌?chǎng)景等的變化導(dǎo)致無(wú)法復(fù)現(xiàn)性能問(wèn)題；另外，現(xiàn)有測(cè)試工具所獲得的測(cè)試結(jié)果中包括有不必要的冗余信息，不利于對(duì)待測(cè)設(shè)備性能的觀察和分析。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)，不僅能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)設(shè)備的性能狀態(tài)，還能夠直觀地分析和定位待測(cè)設(shè)備的性能問(wèn)題，同時(shí)還可以降低人力成本。

本申請(qǐng)的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種性能測(cè)試方法，該方法包括：

基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；

對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；

基于所獲得的多個(gè)關(guān)鍵字段值，確定所述待測(cè)設(shè)備的性能數(shù)據(jù)。

第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種性能測(cè)試裝置，該性能測(cè)試裝置包括測(cè)試單元、解析單元和確定單元；其中，

測(cè)試單元，配置為基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；

解析單元，配置為對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；

確定單元，配置為基于所獲得的多個(gè)關(guān)鍵字段值，確定所述待測(cè)設(shè)備的性能數(shù)據(jù)。

第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種性能測(cè)試裝置，該性能測(cè)試裝置包括存儲(chǔ)器和處理器；其中，

所述存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)能夠在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序；

所述處理器，用于在運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，執(zhí)行如第一方面所述方法的步驟。

第四方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有性能測(cè)試程序，該性能測(cè)試程序被至少一個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述方法的步驟。

第五方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括待測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備；其中，所述測(cè)試設(shè)備至少包括如第二方面或第三方面所述的性能測(cè)試裝置。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)，基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；基于所獲得的多個(gè)關(guān)鍵字段值，確定所述待測(cè)設(shè)備的性能數(shù)據(jù)；這樣，通過(guò)對(duì)測(cè)試結(jié)果的解析處理，可以確定出待測(cè)設(shè)備的性能數(shù)據(jù)，從而不僅能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)設(shè)備的性能狀態(tài)，而且能夠更直觀地分析和定位待測(cè)設(shè)備的性能問(wèn)題，同時(shí)還有利于識(shí)別出概率性的性能缺陷，以加快對(duì)性能缺陷的分析與定位；另外，本申請(qǐng)的技術(shù)方案還可以釋放測(cè)試人力，以達(dá)到降低人力成本的目的。

附圖說(shuō)明

圖1為相關(guān)技術(shù)提供的一種性能測(cè)試方法的流程示意圖；