[發(fā)明專利]一種性能測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010435062.0
• 申請(qǐng)日: 2020-05-21
• 公開（公告）號(hào): CN111654691B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 常景洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO（重慶）智能科技有限公司
• 主分類號(hào): H04N17/00
• 分類號(hào): H04N17/00
• 代理公司: 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 賈偉;張穎玲

1.一種性能測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；

對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；

將所述多個(gè)關(guān)鍵字段值中每?jī)蓚€(gè)相鄰的關(guān)鍵字段值進(jìn)行減法運(yùn)算，得到至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)；

將所述至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)確定為性能數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

將測(cè)試次數(shù)初始設(shè)置為1；

在所述將所述至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)確定為性能數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：

判斷所述測(cè)試次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)次數(shù)；

在判斷結(jié)果為否的情況下，對(duì)所述測(cè)試次數(shù)執(zhí)行加1操作，并返回執(zhí)行所述基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的步驟。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所 述的性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述將至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)確定為所述性能數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：

將所述性能數(shù)據(jù)存儲(chǔ)至預(yù)設(shè)表格內(nèi)；

相應(yīng)地，所述方法還包括：

當(dāng)所述測(cè)試次數(shù)為多次時(shí)，將多次自動(dòng)化測(cè)試所確定的性能數(shù)據(jù)依次存儲(chǔ)至所述預(yù)設(shè)表格內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果之前，所述方法還包括：

控制所述待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)性能分析工具；其中，所述性能分析工具用于指示所述待測(cè)設(shè)備基于目標(biāo)拍攝模式執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試的操作。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的性能測(cè)試方法，其特征在于，所述性能分析工具包括Systrace工具。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述控制所述待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)性能分析工具之前，所述方法還包括：

設(shè)置所述性能分析工具的抓取時(shí)間；其中，所述抓取時(shí)間用于指示所述性能分析工具抓取在所述抓取時(shí)間范圍內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，以得到所述測(cè)試結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果之前，所述方法還包括：

接收用戶發(fā)送的選擇指令，基于所述選擇指令確定所述目標(biāo)拍攝模式；

接收用戶發(fā)送的啟動(dòng)指令，基于所述啟動(dòng)指令控制所述待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)所述性能分析工具。

8.一種性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述性能測(cè)試裝置包括測(cè)試單元、解析單元和確定單元；其中，

所述測(cè)試單元，配置為基于目標(biāo)拍攝模式對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果；

所述解析單元，配置為對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)鍵字段解析，獲得多個(gè)關(guān)鍵字段值；

所述確定單元，配置為將所述多個(gè)關(guān)鍵字段值中每?jī)蓚€(gè)相鄰的關(guān)鍵字段值進(jìn)行減法運(yùn)算，得到至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)；將所述至少一個(gè)階段時(shí)長(zhǎng)確定為性能數(shù)據(jù)。

9.一種性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述性能測(cè)試裝置包括存儲(chǔ)器和處理器；其中，

所述存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)能夠在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序；

所述處理器，用于在運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有性能測(cè)試程序，所述性能測(cè)試程序被至少一個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。

11.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括待測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備；其中，所述測(cè)試設(shè)備至少包括如權(quán)利要求8或9所述的性能測(cè)試裝置。