[發明專利]一種感光模組測試裝置

在審

• 申請號: 202010432999.2
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111458110A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 鐘偉新;廖寶星;陳展耀;戴書麟;劉風雷
• 申請（專利權）人: 浙江水晶光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/04
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 崔熠

本發明公開了一種感光模組測試裝置，涉及光學測試技術領域。包括底板，以及設置在所述底板上的高度調節組件和水平調節平臺，所述水平調節平臺上設置有測試治具，用于固定待測感光模組，所述高度調節組件上設置有與所述高度調節組件轉動連接的旋轉支架，所述旋轉支架上分別設置有黑板和照度均勻的光源，以使轉動所述旋轉支架時，所述光源或黑板與所述待測感光模組對應，所述感光模組測試裝置還包括測試組件，所述測試組件與所述待測感光模組電連接，用于對所述待測感光模組進行測試。能夠簡化感光模組的測試形式，提升檢測效率，降低操作難度和作業強度，進而減少生產成本。

技術領域

本發明涉及光學測試技術領域，具體而言，涉及一種感光模組測試裝置。

背景技術

隨著多媒體技術及電子技術的發展，感光模組被廣泛應用于手機、電腦、門鎖等電子產品中，各種類型的感光模組需求增加，隨之也要求必須滿足一定測試指標。如感光模組中的3D結構光接收端Rx模組或RGB鏡頭模組等，主要測試清晰度、光學中心、臟污和壞點等測試項目。

上述測試項目中，光學中心和臟污的測試需要用到均勻光源(均勻度＞95％)，壞點測試則需要用到黑板(黑色不反光材料)。測試時，將均勻光源移動到感光模組正上方測試，稱之為白場測試；將黑板移動到感光模組正上方測試，稱之為黑場測試。目前白場測試和黑場測試，業界大部分為手動操作來完成測試。

現有技術中，在白場測試時，需將均勻光源手持移動到感光模組正上方，此操作手持比較費力，又不能保證均勻光源在模組正上方的一致性。在切換黑場測試時，需將均勻光源移開，將黑板手持移動到感光模組正上方。上述形式需要頻繁更換測試環境的操作，既耗時又容易在操作時出錯。并且作業強度大，產出值極低，進而增加生產成本。

發明內容

本發明的目的在于提供一種感光模組測試裝置，能夠簡化感光模組的測試形式，提升檢測效率，降低操作難度和作業強度，進而減少生產成本。

本發明的實施例是這樣實現的：

本實施例提供的一種感光模組測試裝置，包括底板，以及設置在所述底板上的高度調節組件和水平調節平臺，所述水平調節平臺上設置有測試治具，用于固定待測感光模組，所述高度調節組件上設置有與所述高度調節組件轉動連接的旋轉支架，所述旋轉支架上分別設置有黑板和照度均勻的光源，以使轉動所述旋轉支架時，所述光源或黑板與所述待測感光模組對應，所述感光模組測試裝置還包括測試組件，所述測試組件與所述待測感光模組電連接，用于對所述待測感光模組進行測試。

可選地，所述高度調節組件上還設置有限位件，以使所述旋轉支架在預設角度內轉動，所述高度調節組件包括安裝座和連接臂，所述安裝座包括相互連接的固定部和連接部，所述固定部與所述底板連接，所述連接臂的一端能夠插入所述連接部內，所述連接部的側壁設置有多個定位孔，以使定位件通過所述定位孔對所述連接臂定位。

可選地，所述高度調節組件還包括法蘭軸承，所述法蘭軸承包括法蘭本體以及設置在所述法蘭本體上的滾動軸承，所述連接臂遠離所述安裝座的一端與所述法蘭本體連接，所述旋轉支架通過所述滾動軸承與所述高度調節組件轉動連接。

可選地，所述限位件設置在所述法蘭本體上，所述旋轉支架上對應設置有定位凸起或定位凹槽，以使所述限位件通過所述定位凸起或所述定位凹槽對旋轉支架限位。

可選地，所述水平調節平臺包括第一支撐座、第一工作臺面、第二支撐座和第二工作臺面，其中，所述第一支撐座和所述第一工作臺面通過第一導軌副滑動連接，所述第二支撐座和所述第二工作臺面通過第二導軌副滑動連接，所述第一工作臺面與所述第二支撐座固定連接，所述第一導軌副的滑動方向與所述第二導軌副的滑動方向垂直。