[發(fā)明專利]一種感光模組測試裝置

在審

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• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111458110A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設計）人: 鐘偉新;廖寶星;陳展耀;戴書麟;劉風雷
• 申請（專利權）人: 浙江水晶光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/04
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 崔熠

1.一種感光模組測試裝置，其特征在于，包括底板，以及設置在所述底板上的高度調(diào)節(jié)組件和水平調(diào)節(jié)平臺，所述水平調(diào)節(jié)平臺上設置有測試治具，用于固定待測感光模組，所述高度調(diào)節(jié)組件上設置有與所述高度調(diào)節(jié)組件轉動連接的旋轉支架，所述旋轉支架上分別設置有黑板和照度均勻的光源，以使轉動所述旋轉支架時，所述光源或黑板與所述待測感光模組對應，所述感光模組測試裝置還包括測試組件，所述測試組件與所述待測感光模組電連接，用于對所述待測感光模組進行測試。

2.根據(jù)權利要求1所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述高度調(diào)節(jié)組件上還設置有限位件，以使所述旋轉支架在預設角度內(nèi)轉動，所述高度調(diào)節(jié)組件包括安裝座和連接臂，所述安裝座包括相互連接的固定部和連接部，所述固定部與所述底板連接，所述連接臂的一端能夠插入所述連接部內(nèi)，所述連接部的側壁設置有多個定位孔，以使定位件通過所述定位孔對所述連接臂定位。

3.根據(jù)權利要求2所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述高度調(diào)節(jié)組件還包括法蘭軸承，所述法蘭軸承包括法蘭本體以及設置在所述法蘭本體上的滾動軸承，所述連接臂遠離所述安裝座的一端與所述法蘭本體連接，所述旋轉支架通過所述滾動軸承與所述高度調(diào)節(jié)組件轉動連接。

4.根據(jù)權利要求3所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述限位件設置在所述法蘭本體上，所述旋轉支架上對應設置有定位凸起或定位凹槽，以使所述限位件通過所述定位凸起或所述定位凹槽對旋轉支架限位。

5.根據(jù)權利要求1所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述水平調(diào)節(jié)平臺包括第一支撐座、第一工作臺面、第二支撐座和第二工作臺面，其中，所述第一支撐座和所述第一工作臺面通過第一導軌副滑動連接，所述第二支撐座和所述第二工作臺面通過第二導軌副滑動連接，所述第一工作臺面與所述第二支撐座固定連接，所述第一導軌副的滑動方向與所述第二導軌副的滑動方向垂直。

6.根據(jù)權利要求5所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述水平調(diào)節(jié)平臺還包括設置在所述第一支撐座上的第一調(diào)節(jié)座以及設置在所述第一工作臺面上的第一抵持塊，所述第一調(diào)節(jié)座上設置有第一調(diào)節(jié)件，所述第一調(diào)節(jié)件的調(diào)節(jié)方向與所述第一導軌副的滑動方向平行；所述水平調(diào)節(jié)平臺還包括設置在所述第二支撐座上的第二調(diào)節(jié)座以及設置在所述第二工作臺面上的第二抵持塊，所述第二調(diào)節(jié)座上設置有第二調(diào)節(jié)件，所述第二調(diào)節(jié)件的調(diào)節(jié)方向與所述第二導軌副的滑動方向平行。

7.根據(jù)權利要求6所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述水平調(diào)節(jié)平臺還包括第一鎖定組件和第二鎖定組件，所述第一鎖定組件包括第一鎖定片和第一鎖定件，所述第一鎖定片上開設有第一槽口，所述第一鎖定片固定在所述第一支撐座上，且所述第一槽口與所述第一工作臺面?zhèn)冗厡颍龅谝绘i定片固定在所述第一工作臺面上，且所述第一槽口與所述第一支撐座側邊對應，以使第一鎖定件通過所述第一槽口將所述第一支撐座上與所述第一工作臺面之間鎖定；所述第二鎖定組件包括第二鎖定片和第二鎖定件，所述第二鎖定片上開設有第二槽口，所述第二鎖定片固定在所述第二支撐座上，且所述第二槽口與所述第二工作臺面?zhèn)冗厡颍龅诙i定片固定在所述第二工作臺面上，且所述第二槽口與所述第二支撐座側邊對應，以使第二鎖定件通過所述第二槽口將所述第二支撐座上與所述第二工作臺面之間鎖定。

8.根據(jù)權利要求1-7任意一項所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述感光模組測試裝置還包括平臺轉接板，所述平臺轉接板的一側與所述水平調(diào)節(jié)平臺連接、另一側與所述測試治具固定連接。

9.根據(jù)權利要求1-7任意一項所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述測試治具包括治具本體，以及設置在所述治具本體內(nèi)的限位凹槽，所述限位凹槽用于對所述待測感光模組限位和固定。

10.根據(jù)權利要求1-7任意一項所述的感光模組測試裝置，其特征在于，所述測試組件包括處理器以及與所述處理器連接的顯示面板或指示燈，所述處理器與所述待測感光模組電連接。