[發明專利]一種高散熱半導體封裝工藝在審
| 申請號: | 202010432881.X | 申請日: | 2020-05-21 |
| 公開(公告)號: | CN111640681A | 公開(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發明(設計)人: | 王琇如 | 申請(專利權)人: | 杰群電子科技(東莞)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/373 |
| 代理公司: | 北京權智天下知識產權代理事務所(普通合伙) 11638 | 代理人: | 王新愛 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 散熱 半導體 封裝 工藝 | ||
1.一種高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,包括以下步驟:
S1、上芯,提供基板并在所述基板上設置芯片(200),電連接所述芯片(200)與所述基板;
S2、提供封裝材料,提供包括絕緣層(310)以及散熱層的絕緣散熱封裝材料(300);
S3、封裝,采用上述絕緣散熱材料對設置在基板上的芯片(200)進行封裝。
2.根據權利要求1所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,所述絕緣層(310)為絕緣膠材料或絕緣散熱材料,所述散熱層為石墨烯散熱層(320)。
3.根據權利要求1或2所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,所述絕緣散熱封裝材料(300)為將所述散熱層與所述絕緣層(310)層壓制成。
4.根據權利要求3所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,所述基板為PCB(100),所述芯片(200)采用倒裝的方式設置在所述基板上,所述芯片(200)與所述PCB(100)上的電路之間通過錫球(400)電連接。
5.根據權利要求1或2或3或4所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,所述封裝采用層壓的方式進行。
6.根據權利要求4所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,所述絕緣膠延伸至所述芯片(200)與所述PCB(100)之間的空間中,并包覆所述錫球(400)。
7.根據權利要求6所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,在所述封裝之前還包括步驟電漿清洗。
8.根據權利要求7所述的高散熱半導體封裝工藝,其特征在于,于所述封裝之后還包括固化,所述固化時長為1-3小時。
9.一種半導體產品,其特征在于,采用權利要求1-8中任一項所述的高散熱半導體封裝工藝進行封裝。
10.一種電子產品,其特征在于,具有采用權利要求1-8中任一項所述的高散熱半導體封裝工藝加工而成的半導體產品。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





