[發明專利]一種測試樣機的平面位置自動校驗方法、系統及設備

在審

• 申請號: 202010432497.X
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111798522A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發明（設計）人: 李平;梁國棟
• 申請（專利權）人: 惠州市德賽西威汽車電子股份有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80;G06K9/32
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 葉新平

1.一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于，包括：

將被測標準樣機安裝在既定位置，進行位置校準后拍攝所述被測標準樣機作為標準安裝圖像，并根據所述標準安裝圖像建立標準標定信息庫；

將被測樣機安裝在所述既定位置，實時拍攝所述被測樣機，得到實時安裝圖像；

根據所述標準標定信息庫調整所述被測樣機的安裝位置，使得所述實時安裝圖像與所述標準安裝圖像一致。

2.如權利要求1所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于，所述根據所述標準安裝圖像建立標準標定信息庫，具體包括：

對所述標準安裝圖像進行空間標定，獲取所述被測標準樣機的圖片像素值，并結合其實際物理尺寸，生成圖像轉換比例；

建立圖像坐標系，并在所述標準安裝圖像上選擇多個標準參照點，獲取對應的坐標信息建立測試條件。

3.如權利要求2所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于，所述在所述標準安裝圖像上選擇多個標準參照點，獲取對應的坐標信息建立測試條件，具體包括：

對所述標準安裝圖像進行灰度化處理，任意選取其中一個點作為第一標準參照點，選取所述第一標準參照點周圍的區域制作標準感興趣區域，并設定相應的相似度閾值作為第一測試條件；

在所述圖像坐標系中選取第二標準參照點和第三標準參照點，并獲取二者之間的距離作為第二測試條件。

4.如權利要求3所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于，所述根據所述標準標定信息庫調整所述被測樣機的安裝位置，使得所述實時安裝圖像與所述標準安裝圖像一致，具體包括：

基于與標準安裝圖像相同的圖像處理過程，確定與所述第一標準參照點、第二標準參照點和第三標準參照點對應的第一校準參照點、第二校準參照點和第三校準參照點，以及對應于所述實時安裝圖像的測試感興趣區域；

將所述標準感興趣區域、第二校準參照點和第三校準參照點與所述測試感興趣區域、第二標準參照點和第三標準參照點進行對比，根據對比結果調整所述被測樣機的安裝位置。

5.如權利要求4所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于，所述將所述標準感興趣區域、第二校準參照點和第三校準參照點與所述測試感興趣區域、第二標準參照點和第三標準參照點進行對比，根據對比結果調整所述被測樣機的安裝位置，具體包括：

對比所述標準感興趣區域與所述測試感興趣區域，得到對比相似度，當所述對比相似度不滿足所述第一測試條件時，按照第一預設移動速度、第一預設移動間距調整所述被測樣機垂直方向的安裝位置，直至滿足所述第一測試條件；

獲取第二校準參照點和第三校準參照點之間的距離，與所述第二測試條件進行比對得到比對結果，當所述比對結果不滿足所述第二測試條件時，以第二預設移動速度、第二預設移動間距分別調整所述被測樣機的橫向安裝位置和縱向安裝位置，直至滿足所述第二測試條件。

6.如權利要求3所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于：所述第二標準參照點為所述標準安裝圖像中除所述被測標準樣機區域外的任意一點，所述第一標準參照點和第三標準參照點為在所述標準安裝圖像中所述被測樣機區域內任意選取的兩點。

7.如權利要求5所述的一種測試樣機的平面位置自動校驗方法，其特征在于：

還包括，當所述實時安裝圖像滿足所述第一測試條件和所述第二測試條件后，保存所述被測樣機安裝位置的坐標信息并更新所述既定位置。