[發(fā)明專利]光斑檢測裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010426003.7 | 申請日: | 2020-05-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113686542A | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 遲鵬;張昊翔;孫玲 | 申請(專利權(quán))人: | 蔚海光學(xué)儀器(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 上海立群專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 楊楷;毛立群 |
| 地址: | 201108 上海市閔行區(qū)*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光斑 檢測 裝置 方法 | ||
本發(fā)明涉及光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種光斑檢測裝置和方法。光斑檢測裝置包括靶板以及刻度單元,刻度單元設(shè)置于靶板的承光面上,在承光面上還設(shè)置有夜光層。光斑檢測方法包括如下步驟:照射步驟,光斑被照射至靶板;留存步驟,靶板上與光斑對應(yīng)位置處的夜光材料留存光斑;測量步驟,利用刻度單元對該留存的光斑進(jìn)行測量。本發(fā)明的光斑測量裝置利用夜光層中夜光材料的持續(xù)發(fā)光效應(yīng),將光源在照射位置的光能儲(chǔ)存起來,當(dāng)光源的光關(guān)閉時(shí),夜光層將儲(chǔ)存的光能緩慢釋放發(fā)光,然后通過刻度單元讀取光斑的大小,光斑大小的測量簡單、效果精準(zhǔn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種光斑檢測裝置和方法。
背景技術(shù)
光斑測量是光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域中重要的項(xiàng)目,光學(xué)系統(tǒng)對光斑的尺寸大小有嚴(yán)格的要求,由于光學(xué)系統(tǒng)很難做到完全準(zhǔn)直,因此在不同的出射位置的光斑大小不同,需要在最終照射面進(jìn)行測量。目前測試光斑大小的方法主要有刀口法、CCD法和套孔法等。
如專利公開號(hào)為CN101458067A的中國專利,公開了一種激光光斑測量裝置,該裝置由DMD微反射鏡陣列、數(shù)字相機(jī)、曝光控制器和圖像數(shù)字處理器組成。利用DMD微反射鏡陣列器件實(shí)現(xiàn)分時(shí)、分區(qū)域改變?nèi)肷涔饴返奶匦裕瑥亩鴾?zhǔn)確控制曝光過程,獲得具有高動(dòng)態(tài)范圍的激光束檢測圖像,經(jīng)數(shù)據(jù)處理,得到光斑直徑、橢圓率、位置、中心點(diǎn)、三維輪廓、功率等參數(shù)。
但是,目前的光斑檢測裝置若精準(zhǔn)地進(jìn)行原位檢測,需要高精度儀器進(jìn)行測量,耗時(shí)費(fèi)力,且設(shè)備投入成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對上述技術(shù)問題而提出,目的在于提供一種光斑測量裝置,本發(fā)明的光斑測量裝置利用夜光層的夜光材料將光源發(fā)射的光線儲(chǔ)存,再以熒光的形式緩慢且持續(xù)地發(fā)出,在靶板上形成熒光光斑,便于利用刻度單元對熒光光斑進(jìn)行測量,測量簡單、效果精準(zhǔn)。
具體來說,本發(fā)明提供了一種光斑測量裝置,包括靶板以及刻度單元,刻度單元設(shè)置于靶板的承光面上,在承光面上還設(shè)置有夜光層。
相較于現(xiàn)有技術(shù)而言,本發(fā)明提供的光斑測量裝置,利用夜光層的夜光材料將光源發(fā)射的光線儲(chǔ)存,再以熒光的形式緩慢且持續(xù)地發(fā)出,在靶板上形成熒光光斑,便于利用刻度單元對熒光光斑進(jìn)行測量,測量簡單、效果精準(zhǔn),省時(shí)省力,且降低設(shè)備投入成本。
此外,對于對人體有害的光線,例如紫外線等,也可以利用本發(fā)明的光斑測量裝置,將有害的光線所形成的光照光斑轉(zhuǎn)化為對人體無害的熒光光斑后進(jìn)行測量,提高測量安全,保護(hù)實(shí)驗(yàn)人員的健康。
另外,作為優(yōu)選,在刻度單元的遠(yuǎn)離靶板的一側(cè)設(shè)置有防水層。
根據(jù)該優(yōu)選方案,防水層的設(shè)置能夠保護(hù)靶板,使得靶板防水防刮,提高光斑測量裝置的使用耐用性。
進(jìn)一步地,作為優(yōu)選,刻度單元包括十字刻度線,十字刻度線形成為網(wǎng)格狀的刻度標(biāo)尺。
根據(jù)該優(yōu)選方案,利用十字刻度線,能夠?qū)θ我庑螤畹墓獍叽笮∵M(jìn)行測量。使用時(shí),將刻度單元罩于承光面的上方,十字刻度線對應(yīng)于熒光光斑處,數(shù)出與熒光光斑完全對應(yīng)的網(wǎng)格數(shù)A以及部分地與熒光光斑對應(yīng)的網(wǎng)格數(shù)B,然后,通過一定的計(jì)算方式即可計(jì)算出該熒光光斑的面積大小。
另外,作為優(yōu)選,刻度單元包括弧形刻度線,弧形刻度線形成為環(huán)狀的刻度標(biāo)尺。
根據(jù)該優(yōu)選方案,利用弧形刻度線,能夠簡單而又快速地對圓形的光斑大小進(jìn)行測量。使用時(shí),將刻度單元罩于承光面的上方,弧形刻度線與熒光光斑同心放置,然后將熒光光斑的邊緣與弧形刻度線進(jìn)行對應(yīng),讀出對應(yīng)的弧形刻度線的示數(shù)。
進(jìn)一步地,作為優(yōu)選,刻度單元還包括多個(gè)刻度標(biāo)簽,多個(gè)刻度標(biāo)簽對應(yīng)于多個(gè)弧形刻度線的半徑、直徑或者面積中的任一種。
根據(jù)該優(yōu)選方案,通過刻度標(biāo)簽的設(shè)置,工作人員直接讀取刻度標(biāo)簽,即可獲得圓形光斑的幾何尺寸,無需計(jì)算,簡單、快速而又直接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蔚海光學(xué)儀器(上海)有限公司,未經(jīng)蔚海光學(xué)儀器(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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