[發(fā)明專利]用于色譜質(zhì)譜分析的積聚時間的動態(tài)控制

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010424537.6
• 申請日: 2020-05-19
• 公開（公告）號: CN111983046B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: C·托因格;M·穆勒;S·愛留克
• 申請（專利權(quán)）人: 塞莫費雪科學(xué)(不來梅)有限公司
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02;G01N30/72;G01N30/86
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 周全;陳潔

提供了一種質(zhì)譜分析方法。所述方法包含：從色譜系統(tǒng)洗脫樣本；以及基于樣本在其從色譜系統(tǒng)洗脫時的色譜峰的持續(xù)時間和每個色譜峰要進(jìn)行的掃描的最小數(shù)目，計算樣本從色譜系統(tǒng)洗脫的期望最長掃描持續(xù)時間。基于期望最長掃描持續(xù)時間來計算最長積聚持續(xù)時間。使用離子源使樣本離子化以產(chǎn)生樣本離子。將樣本離子沿著離子路徑從離子源引導(dǎo)到質(zhì)量分析器。進(jìn)行第一組質(zhì)量分析掃描。第一組質(zhì)量分析掃描中的每一個包含：在沿著離子路徑的一點處積聚一部分樣本離子，其中該一部分樣本離子的積聚持續(xù)時間不超過最長積聚持續(xù)時間，以及使用質(zhì)量分析器對該一部分樣本離子進(jìn)行質(zhì)量分析。質(zhì)量分析器為傅立葉變換質(zhì)量分析器或飛行時間質(zhì)量分析器。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及質(zhì)譜分析。具體地，本公開涉及用于質(zhì)譜分析的方法和系統(tǒng)，所述質(zhì)譜分析包括傅立葉變換質(zhì)譜儀或飛行時間質(zhì)譜儀。

背景技術(shù)

為了分析離子樣本，一些質(zhì)量分析器可以采用離子的圖像電流檢測。具體地，一些質(zhì)量分析器可以采用所檢測的圖像電流的傅立葉變換來確定離子的頻率和/或質(zhì)量。此類質(zhì)量分析器通常被稱為傅立葉變換質(zhì)量分析器。傅立葉變換質(zhì)量分析器通常包括離子俘獲裝置，其用于俘獲離子包作為質(zhì)量分析的一部分。可能需要控制離子俘獲裝置內(nèi)的離子數(shù)以限制空間電荷效應(yīng)

為了分析離子，一些質(zhì)量分析器可以測量離子樣本的飛行時間。此類質(zhì)量分析器通常被稱為飛行時間(TOF)質(zhì)量分析器。TOF質(zhì)量分析器通常包括離子俘獲裝置，以積聚用于注入到TOF質(zhì)量分析器中的離子包。可能需要控制離子俘獲裝置內(nèi)的離子數(shù)以限制空間電荷效應(yīng)。

可以使用自動增益控制(AGC)系統(tǒng)控制將在質(zhì)量分析器的離子俘獲裝置中積聚的離子數(shù)。例如，在US?5,107,109中描述的AGC系統(tǒng)可以用于控制離子阱中的離子數(shù)。尤其，AGC系統(tǒng)可以嘗試控制離子阱中的離子積聚，使得離子的數(shù)目(離子數(shù))不會達(dá)到空間電荷效應(yīng)變得顯著的水平。AGC系統(tǒng)可以旨在控制每個包的持續(xù)時間以嘗試確保每個包的離子數(shù)大體上一致，在所述持續(xù)時間內(nèi)，離子從離子源注入并積聚在離子阱中。

例如傅立葉變換質(zhì)量分析器和TOF質(zhì)量分析器的質(zhì)量分析器可以用于分析由色譜系統(tǒng)提供的樣本。色譜系統(tǒng)特別適用于分析包含許多不同分析物分子的復(fù)雜樣本。當(dāng)分析物分子從色譜系統(tǒng)洗脫時，色譜系統(tǒng)輸出分析物分子的速率可在色譜峰的持續(xù)時間內(nèi)變化。例如，樣本分析物從色譜系統(tǒng)中洗脫的速率可能在色譜峰的持續(xù)時間內(nèi)從可忽略值顯著變化到峰值流速，并再次變回到可忽略值。

向傅立葉變換質(zhì)量分析器或TOF質(zhì)量分析器的離子俘獲裝置提供分析物離子的速率的變化為AGC系統(tǒng)帶來了挑戰(zhàn)。在分析物離子到離子俘獲裝置的流速非常低(例如可忽略)的情況下，在離子阱中積聚期望數(shù)目的離子可能花費相當(dāng)長一段時間。因此，在供應(yīng)到離子俘獲裝置的離子速率相對低的情況下，離子俘獲裝置達(dá)到期望離子數(shù)的積聚持續(xù)時間可能相對長。

在一些已知的AGC系統(tǒng)中，AGC系統(tǒng)可以包括在離子俘獲裝置中積聚離子所花費的時間的上限。例如，在質(zhì)量分析實驗開始時，用戶可以預(yù)先確定用于離子俘獲裝置的最長注入時間。最長注入時間對在由質(zhì)量分析器進(jìn)行掃描之前將離子注入到離子俘獲裝置中的持續(xù)時間(即，在離子俘獲裝置中積聚離子包所花費的持續(xù)時間)設(shè)置了上限。因此，如果分析物離子(例如來自色譜系統(tǒng))的流速相對低或可忽略，那么一旦達(dá)到最長注入時間，AGC系統(tǒng)就可以終止離子的積聚。因此，AGC系統(tǒng)的最長注入時間可以確保在每次實驗開始時由用戶有效地預(yù)先確定質(zhì)量分析器的最小掃描速率。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本公開的第一方面，提供了一種質(zhì)譜分析方法。所述方法包含：

(a)從色譜系統(tǒng)洗脫樣本；

(b)基于所述樣本在其從色譜系統(tǒng)洗脫時的色譜峰的預(yù)期持續(xù)時間和每個色譜峰要進(jìn)行的掃描的最小數(shù)目，計算樣本從色譜系統(tǒng)洗脫的期望最長掃描持續(xù)時間；

(c)基于期望最長掃描持續(xù)時間計算最長積聚持續(xù)時間；

(d)使用離子源使樣本離子化以產(chǎn)生樣本離子；