[發明專利]用于色譜質譜分析的積聚時間的動態控制有效
| 申請號： | 202010424537.6 | 申請日： | 2020-05-19 |
| 公開（公告）號： | CN111983046B | 公開（公告）日： | 2023-05-23 |
| 發明（設計）人： | C·托因格;M·穆勒;S·愛留克 | 申請（專利權）人： | 塞莫費雪科學(不來梅)有限公司 |
| 主分類號： | G01N30/02 | 分類號： | G01N30/02;G01N30/72;G01N30/86 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 周全;陳潔 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 色譜 譜分析 積聚 時間 動態控制 | ||
1.一種質譜分析方法，其包含：
(a)從色譜系統洗脫樣本；
(b)基于所述樣本在其從所述色譜系統洗脫時的色譜峰的持續時間、每個色譜峰要進行的掃描的最小數目以及當前從所述色譜系統洗脫的所述樣本中要識別的目標分析物的數目，計算所述樣本從所述色譜系統洗脫的期望最長掃描持續時間；
(c)基于所述期望最長掃描持續時間來計算最長積聚持續時間；
(d)使用離子源使所述樣本離子化以產生樣本離子；
(e)將所述樣本離子沿著離子路徑從所述離子源引導到質量分析器；
(f)進行第一組質量分析掃描，所述第一組質量分析掃描中的每一個掃描包含：
在沿著所述離子路徑的一點處積聚一部分樣本離子，其中所述一部分樣本離子的積聚持續時間不超過所述最長積聚持續時間；以及
使用所述質量分析器對所述部分樣本離子進行質量分析；
其中所述質量分析器為傅立葉變換質量分析器或飛行時間質量分析器。
2.根據權利要求1所述的方法，其中
所述最長積聚持續時間還基于每次質量分析掃描要識別的目標分析物的數目來計算。
3.根據權利要求2所述的方法，其中
所述期望最長掃描持續時間還基于每次質量分析掃描要識別的目標分析物的所述數目來計算。
4.根據權利要求1所述的質譜分析方法，其進一步包含：
(g)計算所述第一組質量分析掃描的平均掃描持續時間，其中，如果所述第一組掃描的所述平均掃描持續時間大于所述期望最長掃描持續時間，那么縮短所述最長積聚持續時間以提供調整后的最長積聚持續時間；以及
(h)進行第二組質量分析掃描，所述第二組質量分析掃描中的每一個掃描包含；
在沿著所述離子路徑的一點處積聚一部分樣本離子，其中所述一部分樣本離子的積聚持續時間不超過所述調整后的最長積聚持續時間；以及
使用所述質量分析器對所述一部分樣本離子進行質量分析。
5.根據權利要求4所述的質譜分析方法，其中按比例因子縮短所述最長積聚持續時間，以提供所述調整后的最長積聚持續時間。
6.根據權利要求4所述的質譜分析方法，其中進行所述第二組質量分析掃描進一步包含：
計算前n次質量分析掃描的平均掃描持續時間，其中，如果所述前n次質量分析掃描的所述平均掃描持續時間大于所述期望最長掃描持續時間，那么進一步縮短所述調整后的最長積聚持續時間，
其中n為大于2的整數。
7.根據權利要求6所述的質譜分析方法，其中
在進行所述第二組質量分析掃描期間，重復如下步驟：計算所述前n次質量分析掃描的所述平均掃描持續時間，以及如果所述前n次質量分析掃描的所述平均掃描持續時間大于所述期望最長掃描持續時間，那么進一步縮短所述調整后的最長積聚持續時間。
8.根據權利要求6或權利要求7所述的質譜分析方法，其中
n是基于要識別的目標分析物的所述數目的倍數計算的。
9.根據權利要求1-7中任一項所述的質譜分析方法，其中
從所述色譜系統洗脫所述樣本包含提供所述樣本隨時間推移的多個色譜峰；以及
基于從所述色譜系統洗脫的所述色譜峰，隨時間推移更新所述期望最長掃描持續時間和所述最長積聚持續時間。
10.根據權利要求1-7中任一項所述的質譜分析方法，其中所述質量分析器為軌道俘獲質量分析器。
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