[發明專利]一種檢測冷卻片疊裝合規性的方法

有效

• 申請號: 202010423895.5
• 申請日: 2020-05-19
• 公開（公告）號: CN111652091B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 楊振;任寧;蔣貴勤;曹惠
• 申請（專利權）人: 上海恒浥智能科技股份有限公司
• 主分類號: G06V20/50
• 分類號: G06V20/50;G06V10/25;G06V10/75;G06V10/34;G06V10/42;G06V10/26
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 季永康

本發明提供的該檢測冷卻片疊裝合規性的方法，步驟包括：S1設定圖像采集裝置取景方向，獲取疊裝加工后的冷卻片組側面圖像，進行二值化預處理，以在冷卻片組側面選取特征區域，截取做為模板圖像，輸入圖像識別軟件；S2定位冷卻片組上方及下方的基準線，并通過軸線定位模板匹配，來定位冷卻片組軸線基準；S3根據S2定位出的基準線，通過第一特征模塊匹配，確定第一特征位于圖像的偏向；根據S2定位出的基準線做預設偏移，選定數量檢測區，并根據第一運算規則統計符合條件的連通域個數；S4排序S3中識別的各連通域，根據第一特征預設所處冷卻片組所在層數，確定特征層，通過預設偏移建立第一特征匹配區，以與第一特征模板匹配，獲取關鍵位匹配結果。

技術領域

本發明涉及視覺圖像處理領域，尤其涉及檢測具有特定疊裝結構的冷卻片疊裝合規性的方法。

背景技術

現有Chiller（制冷系統）在裝配生產過程中，涉及冷卻片的壓裝工序，如根據預設的冷卻片數量，及各冷卻片的形狀，按一定順序組裝而成。

然而，此類冷卻片通常個體形狀差異甚微，因此在加工過程中，人工排放冷卻片容易出現錯誤，造成殘次品率上升，然而即便采用人工復檢來降低殘次率，但由于殘次品的錯誤往往存在于細微之處，通過人工進行檢測效率很低，且易疲勞誤判，因此采用視覺相機檢測，可以有效節省時間和提高壓裝檢測的準確度。

然而現有的視覺圖像識別技術，應用于冷卻片疊裝檢測領域的方案并不多見，由于冷卻片在疊裝過程中排列較為緊密，且特征點較為細微，因此直接采用現有技術來對冷卻片疊裝合規性進行檢測的準確率并不高，因此本領域即待一種方案來提升檢測的準確率。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種檢測冷卻片疊裝合規性的方法，以提升視覺圖像處理技術對冷卻片疊裝合規性檢測的準確率。

為了實現上述目的，本發明提供了一種檢測冷卻片疊裝合規性的方法，其步驟包括：

S1設定圖像采集裝置取景方向，獲取位于疊裝加工后的冷卻片組側面圖像，并進行二值化預處理，以在冷卻片組側面選取特征區域，并截取做為模板圖像，以輸入圖像識別軟件，其中所述模板圖像包括：軸線定位模板，第一特征模板；

S2獲取被測冷卻片組側面圖像，進行二值化處理，定位冷卻片組上方及下方的基準線，并通過軸線定位模板匹配，來定位冷卻片組軸線基準；

S3檢測被測冷卻片組側面圖像，根據步驟S2定位出的基準線，通過第一特征模塊匹配，確定第一特征位于圖像的左右偏向；根據步驟S2定位出的基準線做預設偏移，選定數量檢測區，并根據第一運算規則統計符合條件的連通域個數，識別冷卻片組層數；

其中所述第一運算規則包括：對數量檢測區進行圖像二值化處理，并進行形態學分析中的開運算和閉運算，其步驟包括：以參數半徑1.5像素的圓形掩膜對所述數量檢測區進行開運算，然后對得到的結果以5×5像素的矩形掩膜進行閉運算，再對結果以30×3像素的矩形掩膜進行開運算，以分割數量檢測區，形成數個連通域，后根據預設尺寸篩選所述連通域；

S4排序步驟S3中識別的各連通域，根據第一特征預設所處冷卻片組所在層數，確定特征層，通過預設偏移建立第一特征匹配區，以與第一特征模板匹配，獲取關鍵位匹配結果。

可選地，其中步驟還包括：

S5根據冷卻片組軸線基準及上方及下方的基準線，通過預設偏移確定被測冷卻片組側面圖像中的驗證區域，并進行二值化處理，使用參數半徑為3.5像素的圓形掩膜進行開運算，將處理結果的連通域進行分離為獨立區域，根據預設尺寸篩選連通域，并統計出符合要求的連通域個數，以供與預設個數比較判斷。

可選地，其中定位冷卻片組下方基準線步驟包括：

S2.1 粗定位，手動選取冷卻片組底部定位檢測區域，并對底部定位檢測區域進行二值化處理；