[發明專利]確定物體相位值的方法、裝置、存儲介質及電子裝置

有效

• 申請號: 202010420814.6
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111595267B
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 莊涵;汪鵬飛;劉羽;任宇鵬;盧維;周璐
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25;G06T17/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙靜

本發明提供了一種確定物體相位值的方法、裝置、存儲介質及電子裝置，其中，該方法包括：獲取通過對目標物體進行拍攝所得到的目標圖像；確定目標圖像中第一區域的第一質量值，以及，基于第一質量值確定目標圖像中第二區域的第二質量值，其中，第一區域為與目標圖像邊界的距離大于第一閾值的中間區域，第二區域為與目標圖像邊界的距離小于等于第一閾值的的邊界區域；基于第一質量值以及第二質量值對預先確定的目標物體的包裹相位進行解纏，以得到目標物體的相位值。解決了相關技術中存在的計算質量圖不準確，解纏時間長的問題，進而得到了準確的質量圖，并且縮短了解纏時間，提高了確定物體相位值的效率。

技術領域

本發明涉及通信領域，具體而言，涉及一種確定物體相位值的方法、裝置、存儲介質及電子裝置。

背景技術

隨著投影和成像技術的發展，光學三維重建技術已成為物體三維模型重建的重要手段。因其精度高、測速快、無需接觸等優點，光學三維重建方法在導航控制規劃、工業檢測、遺產保護等領域具有較高的應用價值。

在相關技術中，采用相位測量輪廓術(Phase Measuring Profilometry，簡稱PMP)通過結合正弦光柵投影技術和相移技術，實現對物體表面信息的三維重建。主要思想為：正弦投影光柵經編碼后投影到物體的表面，經物體的表面反射變形，再通過相移技術，即通過質量圖引導解纏，獲得物體表面的相位分布，最后通過三角幾何法獲取物體表面的輪廓信息。在計算質量值時，整個圖像的質量值計算方法相同，然而，在圖像的邊界處，圖像的邊界一側并未存在或者存在較少的像素點，因此，導致得到的質量圖不準確。不僅如此，在解纏時，每次均在該鄰接隊列中尋找質量最高的點進行解纏，導致在原有質量圖解相位的過程中，質量圖解相位的時間較長，較難滿足實驗的要求，尤其隨著鄰接隊列的增長，其對于鄰接高質量點的遍歷時間很長，將極大增加尋找高質量點的時間。

由此可知，相關技術中存在計算質量圖不準確，解纏時間長的問題。

針對相關技術中存在的上述問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種確定物體相位值的方法、裝置、存儲介質及電子裝置，以至少解決相關技術中存在的計算質量圖不準確，解纏時間長的問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種確定物體相位值的方法，包括：獲取通過對目標物體進行拍攝所得到的目標圖像；確定所述目標圖像中第一區域的第一質量值，以及，基于所述第一質量值確定所述目標圖像中第二區域的第二質量值，其中，所述第一區域為與所述目標圖像邊界的距離大于第一閾值的中間區域，所述第二區域為與所述目標圖像邊界的距離小于等于第一閾值的邊界區域；基于所述第一質量值以及所述第二質量值對預先確定的所述目標物體的包裹相位進行解纏，以得到所述目標物體的相位值。

根據本發明的另一個實施例，提供了一種確定物體相位值的裝置，包括：獲取模塊，用于獲取通過對目標物體進行拍攝所得到的目標圖像；確定模塊，用于確定所述目標圖像中第一區域的第一質量值，以及，基于所述第一質量值確定所述目標圖像中第二區域的第二質量值，其中，所述第一區域為與所述目標圖像邊界的距離大于第一閾值的中間區域，所述第二區域為與所述目標圖像邊界的距離小于等于第一閾值的邊界區域；解纏模塊，用于基于所述第一質量值以及所述第二質量值對預先確定的所述目標物體的包裹相位進行解纏，以得到所述目標物體的相位值。

根據本發明的又一個實施例，還提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機程序，其中，所述計算機程序被設置為運行時執行上述任一項方法實施例中的步驟。

根據本發明的又一個實施例，還提供了一種電子裝置，包括存儲器和處理器，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行上述任一項方法實施例中的步驟。