[發明專利]一種形變測試貼片

在審

• 申請號: 202010419968.3
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111551124A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 西安柯萊特信息科技有限公司
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種形變測試貼片，其特征在于，包括：彈性層、第一光反射部、第二光反射部、二硫化鉬層，所述第一光反射部和所述第二光反射部固定在所述彈性層上，所述二硫化鉬層固定在所述第一光反射部和所述第二光反射部上，所述第一光反射部包括周期排列的第一光反射單元，所述第二光反射部包括周期排列的第二光反射單元；使用時，所述彈性層固定在待測物體上，待測物體的形變改變所述第一光反射部和所述第二光反射部的反射光譜，通過該反射光譜確定待測物體的形變。

2.如權利要求1所述的形變測試貼片，其特征在于：所述第一光反射單元或所述第二光反射單元為金屬微納顆粒、半導體材料顆粒。

3.如權利要求2所述的形變測試貼片，其特征在于：所述第一光反射單元或所述第二光反射單元的形狀為方形、圓形、矩形。

4.如權利要求3所述的形變測試貼片，其特征在于：所述第一光反射單元與所述第二光反射單元的材料或形狀不同。

5.如權利要求1-4任一項所述的形變測試貼片，其特征在于：在所述第一光反射單元間設有透明彈性材料，在所述第二光反射單元間設有透明彈性材料，所述透明彈性材料連接所述彈性層和所述二硫化鉬層。

6.如權利要求5所述的形變測試貼片，其特征在于：所述第一光反射單元或所述第二光反射單元為由金屬顆粒和半導體顆粒構成的二聚體。

7.如權利要求6所述的形變測試貼片，其特征在于：所述半導體顆粒為環形，所述金屬顆粒置于所述環形中。

8.如權利要求7所述的形變測試貼片，其特征在于：所述金屬顆粒的高度小于所述半導體顆粒的高度。