[發明專利]運載體的變形測量方法、裝置以及存儲介質有效
| 申請號: | 202010415046.5 | 申請日: | 2020-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN111678451B | 公開(公告)日: | 2022-06-10 |
| 發明(設計)人: | 楊君;習先強 | 申請(專利權)人: | 天津時空經緯測控技術有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/16 | 分類號: | G01B11/16;G01C1/00 |
| 代理公司: | 北京萬思博知識產權代理有限公司 11694 | 代理人: | 劉冀 |
| 地址: | 300380 天津市西青區中*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 運載 變形 測量方法 裝置 以及 存儲 介質 | ||
1.一種運載體的變形測量方法,其特征在于,包括:
在所述運載體上確定多個參照物,其中每個所述參照物設置有至少一個測量面(S);
確定與所述參照物的測量面(S)的姿態相關的第一姿態測量信息;
根據所述第一姿態測量信息確定所述多個參照物相對于地理坐標系的參照物姿態信息;以及
根據所述多個參照物的參照物姿態信息,確定所述運載體的變形信息,其中
確定與所述參照物的測量面(S)的姿態相關的第一姿態測量信息的操作,包括:
利用光學準直裝置(10)測量所述光學準直裝置(10)與所述參照物的測量面(S)之間的角度偏差信息作為所述第一姿態測量信息的至少一部分信息,所述角度偏差信息用于指示所述光學準直裝置(10)的軸線與所述參照物的測量面(S)法線之間的角度偏差;以及
利用與所述光學準直裝置(10)連接的姿態測量裝置(20)測量所述光學準直裝置(10)的第二姿態測量信息作為所述第一姿態測量信息的至少一部分信息,并且
根據所述第一姿態測量信息確定所述多個參照物的參照物姿態信息的操作,包括:
從所述多個參照物中選擇待確定的姿態信息的參照物;
根據所述光學準直裝置(10)與所選擇的參照物的測量面(S)對應的角度偏差信息以及所述第二姿態測量信息,確定所選擇的參照物的測量面(S)的測量面姿態信息;以及
根據所述測量面姿態信息,確定所選擇的參照物的參照物姿態信息,其中
所述光學準直裝置(10)包括:光源(110);圖像采集單元(120);設置于所述光源前的第一分劃板(130);設置于所述圖像采集單元(120)前的第二分劃板(140);以及光學系統,其中
所述光學系統用于將由所述光源(110)發射并且穿過所述第一分劃板(130)的光源光投射到所選擇的參照物的測量面(S)上,以及將從所選擇的參照物的測量面(S)反射回的所述光源光經由所述第二分劃板(140)投射到所述圖像采集單元(120),并且
通過所述圖像采集單元采集檢測圖像,其中所述檢測圖像包含所述第一分劃板的第一刻線的第一影像和所述第二分劃板的第二刻線的第二影像;
根據所述第一影像相對于所述第二影像的相對位移(Δx,Δy),通過以下公式確定被測目標相對于所述光學準直裝置(10)的方位角度偏差ki和俯仰角度偏差φi:
ki=Δx/Sx
φi=Δy/Sy
其中Sx為水平方向的比例因子,Sy為垂直方向的比例因子;
利用陀螺儀以及加速度計檢測所述光學準直裝置(10)的方位角α1以及俯仰角β1;以及
根據所述光學準直裝置(10)的方位角α1以及俯仰角β1以及對方位角度偏差ki和俯仰角度偏差φi,確定測量面的姿態信息,并且其中方法還包括:
在確定與所述參照物的測量面(S)的姿態相關的第一姿態測量信息的同時,利用驅動裝置(40)驅動所述光學準直裝置(10)和所述姿態測量裝置(20)進行姿態變換,其中所述驅動裝置(40)包括固定底座(410)、與所述固定底座(410)連接的驅動模塊(420)以及與所述驅動模塊(420)連接的運動平臺(430),其中所述固定底座(410)用于與所述運載體進行連接;所述驅動模塊(420)用于產生驅動信號,并驅動所述運動平臺(430)進行姿態變換;以及所述運動平臺(430)用于固定所述光學準直裝置(10)和姿態測量裝置(20),并且其中
所述驅動信號為白噪聲信號,從而驅動所述運動平臺(430)進行隨機的姿態變換。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述多個參照物的參照物姿態信息,確定所述運載體的變形信息的操作,包括:
根據所述多個參照物的參照物姿態信息,確定所述多個參照物之間的姿態夾角;以及
根據所述姿態夾角,確定所述運載體的變形信息。
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