[發(fā)明專利]一種產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備及其檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010412865.4
• 申請(qǐng)日: 2020-05-15
• 公開（公告）號(hào): CN111537516B
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許玉佩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州精瀨光電有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88;G01N21/95;G01N21/01;B65G47/91
• 代理公司: 江蘇坤象律師事務(wù)所 32393
• 代理人: 趙新民

本發(fā)明揭示了一種產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備及其檢測(cè)方法，其中設(shè)備包括第一平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)和第二平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)；第一平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和與第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)，第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)設(shè)有用于吸取待檢測(cè)產(chǎn)品的產(chǎn)品吸取面，第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)升降和翻轉(zhuǎn)；第二平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和與第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)，第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)設(shè)有用于吸取待檢測(cè)產(chǎn)品的產(chǎn)品吸取面，第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)升降和翻轉(zhuǎn)；第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)與第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)分別位于待檢測(cè)產(chǎn)品的兩側(cè)。該產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備及其檢測(cè)方法，無(wú)需額外翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，可獨(dú)立完成產(chǎn)品的雙面切換。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備及其檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在許多產(chǎn)品如電路板、液晶面板的制造生產(chǎn)中，產(chǎn)品檢測(cè)如檢測(cè)產(chǎn)品板材的厚度等是非常重要的一個(gè)工序，其影響產(chǎn)品質(zhì)量，對(duì)于生產(chǎn)的優(yōu)良率具有不可忽視的影響，其中，產(chǎn)品板材的檢測(cè)常需要確認(rèn)板材的正反兩表面即A面和B面是否有缺陷。

現(xiàn)有的檢測(cè)設(shè)備通常只有一個(gè)檢測(cè)平臺(tái)，當(dāng)操作人員在檢查完產(chǎn)品的A面后，需要人工或者外加設(shè)備進(jìn)行A、B面翻轉(zhuǎn)后再送入設(shè)備檢查產(chǎn)品B面，借此達(dá)到雙面檢測(cè)的效果。但通過(guò)外力翻轉(zhuǎn)的檢測(cè)方法，對(duì)于易碎或是易彎折的板材勢(shì)必造成檢測(cè)上的不便的問(wèn)題，且增加了檢測(cè)時(shí)間。

另外，現(xiàn)有的單檢測(cè)平臺(tái)檢測(cè)設(shè)備，在檢查完產(chǎn)品A面之后，檢測(cè)平臺(tái)翻轉(zhuǎn)180°后檢查產(chǎn)品B面，此時(shí)由于B面一些區(qū)域供產(chǎn)品的吸附和支撐，檢測(cè)平臺(tái)翻轉(zhuǎn)后導(dǎo)致B面有較多的非檢區(qū)，使得部分缺陷無(wú)法檢出。且此時(shí)B面距離操作者相較于A面檢測(cè)時(shí)距離操作者較遠(yuǎn)，不利于操作者檢查產(chǎn)品缺陷。

如何提供一種產(chǎn)品雙面檢測(cè)可靠、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、檢測(cè)全面的產(chǎn)品雙面檢測(cè)設(shè)備是本領(lǐng)域急需解決的。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷，提供一種產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備及其檢測(cè)方法，無(wú)需額外翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，即可獨(dú)立完成產(chǎn)品的雙面切換，且可以完成產(chǎn)品正反兩表面即A、B面的完全檢查，避免存在非檢區(qū)導(dǎo)致的缺陷遺漏。

為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明的全部或部分目的，本發(fā)明所提供的一種產(chǎn)品雙面全檢設(shè)備，其包括控制系統(tǒng)以及與所述控制系統(tǒng)電連接的第二平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)和第一平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)；所述第一平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和與所述第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)，所述第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)設(shè)有用于吸取產(chǎn)品的產(chǎn)品吸取面，所述第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)升降和翻轉(zhuǎn)；所述第二平臺(tái)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和與所述第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)，所述第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)設(shè)有用于吸取產(chǎn)品的產(chǎn)品吸取面，所述第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)升降和翻轉(zhuǎn)；其中，所述第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)與所述第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)分別位于待檢測(cè)產(chǎn)品檢測(cè)面的相對(duì)側(cè)；所述第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品吸取面和所述第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品吸取面相對(duì)設(shè)置。所述第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)與所述第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)平行相對(duì)設(shè)置，由各自的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)獨(dú)立驅(qū)動(dòng)，獨(dú)立實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品A、B面的切換；且第二平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和第一平臺(tái)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)使得第二平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)和第一平臺(tái)吸取機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品翻轉(zhuǎn)，無(wú)需借助人工翻轉(zhuǎn)或額外的A、B面翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，節(jié)約了時(shí)間，效率高，且產(chǎn)品A、B面檢測(cè)時(shí)可避免存在非檢區(qū)導(dǎo)致的缺陷遺漏。