[發(fā)明專利]多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010411940.5
• 申請(qǐng)日: 2020-05-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111610393A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭宏斌;王強(qiáng);蔣永紅;吳立豐;趙瑞華;姜兆國(guó);李曉斌;張恒晨;孫佳林;宋鋮;靳英策;王飛;郭建;滑國(guó)紅;周澤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R23/16;G01R13/00
• 代理公司: 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 付曉娣

本發(fā)明適用于微波微系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括：上位機(jī)、測(cè)試儀器和待測(cè)產(chǎn)品；上位機(jī)可以配置待測(cè)產(chǎn)品的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)、待測(cè)產(chǎn)品的工作模式和測(cè)試儀器的狀態(tài)參數(shù)；獲取待測(cè)產(chǎn)品和測(cè)試儀器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件，將校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件下發(fā)給測(cè)試儀器；根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，將數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令下發(fā)給校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器，并采集校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)表，可以實(shí)現(xiàn)待測(cè)產(chǎn)品工作模式以及測(cè)試數(shù)據(jù)的動(dòng)態(tài)可重構(gòu)配置，便于實(shí)現(xiàn)待測(cè)產(chǎn)品的指標(biāo)參數(shù)的一鍵化全自動(dòng)測(cè)試，具有更高的測(cè)試效率和測(cè)試精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于微波微系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

多通道寬帶微波集成組件是由系列化、標(biāo)準(zhǔn)化封裝的微波功能模塊構(gòu)成的復(fù)雜微波組件，其測(cè)試任務(wù)規(guī)模龐大，測(cè)試指標(biāo)多，傳統(tǒng)的人工測(cè)試方法既費(fèi)時(shí)又費(fèi)力，已經(jīng)不能適應(yīng)實(shí)際測(cè)試的需求，而且測(cè)量操作人員的技術(shù)能力水平、業(yè)務(wù)熟練程度，也有可能會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是微波組件測(cè)試發(fā)展的主要方向，一套合適的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以幫助設(shè)計(jì)人員獲得、匯總和分析測(cè)試數(shù)據(jù)，及時(shí)找出設(shè)計(jì)缺陷和問(wèn)題，在提高設(shè)計(jì)、測(cè)試效率的同時(shí)，降低人力、物力成本，提高市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

然而現(xiàn)有的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大多為積木型的臺(tái)式儀器系統(tǒng)或集成型的模塊化儀器系統(tǒng)，對(duì)于測(cè)試任務(wù)規(guī)模龐大，測(cè)試指標(biāo)多的復(fù)雜微波組件，測(cè)試流程復(fù)雜、測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性較差。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中復(fù)雜微波組件測(cè)試流程復(fù)雜、測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性較差的問(wèn)題。

本發(fā)明實(shí)施例的第一方面提供了一種多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括：上位機(jī)、測(cè)試儀器和待測(cè)產(chǎn)品；

所述上位機(jī)，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)、所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式和所述測(cè)試儀器的狀態(tài)參數(shù)；獲取所述待測(cè)產(chǎn)品和所述測(cè)試儀器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件，并將所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件下發(fā)給所述測(cè)試儀器；根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，將數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令下發(fā)給校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器，并采集所述校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)表；

所述測(cè)試儀器，用于根據(jù)所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件進(jìn)行校準(zhǔn)；接收所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，并根據(jù)所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令對(duì)校準(zhǔn)后的待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，生成測(cè)試數(shù)據(jù)；

所述待測(cè)產(chǎn)品，根據(jù)不同的自動(dòng)測(cè)試指令工作在不同的工作模式；通過(guò)所述測(cè)試儀器接收所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，并根據(jù)所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，改變工作模式。

可選的，所述上位機(jī)，包括：輸入模塊、自動(dòng)測(cè)試模塊和數(shù)據(jù)重構(gòu)模塊；

所述輸入模塊，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和所述測(cè)試儀器的狀態(tài)參數(shù)，并獲取所述待測(cè)產(chǎn)品和所述測(cè)試儀器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件；

所述自動(dòng)測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)指標(biāo)，生成自動(dòng)測(cè)試指令；

所述數(shù)據(jù)重構(gòu)模塊，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，并根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，將數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令下發(fā)給校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器，以便所述校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。

可選的，所述配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，并根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，包括：

為所述自動(dòng)測(cè)試指令的通信數(shù)據(jù)幀的對(duì)應(yīng)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式的命令類型字節(jié)賦值，以配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式；