[發(fā)明專利]多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010411940.5
• 申請(qǐng)日: 2020-05-15
• 公開（公告）號(hào): CN111610393A
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭宏斌;王強(qiáng);蔣永紅;吳立豐;趙瑞華;姜兆國;李曉斌;張恒晨;孫佳林;宋鋮;靳英策;王飛;郭建;滑國紅;周澤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R23/16;G01R13/00
• 代理公司: 石家莊國為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 付曉娣

1.一種多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：上位機(jī)、測(cè)試儀器和待測(cè)產(chǎn)品；

所述上位機(jī)，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)、所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式和所述測(cè)試儀器的狀態(tài)參數(shù)；獲取所述待測(cè)產(chǎn)品和所述測(cè)試儀器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件，并將所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件下發(fā)給所述測(cè)試儀器；根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，將數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令下發(fā)給校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器，并采集所述校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器自動(dòng)測(cè)試過程中產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)表；

所述測(cè)試儀器，用于根據(jù)所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件進(jìn)行校準(zhǔn)；接收所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，并根據(jù)所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令對(duì)校準(zhǔn)后的待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，生成測(cè)試數(shù)據(jù)；

所述待測(cè)產(chǎn)品，根據(jù)不同的自動(dòng)測(cè)試指令工作在不同的工作模式；通過所述測(cè)試儀器接收所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，并根據(jù)所述數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令，改變工作模式。

2.如權(quán)利要求1所述的多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機(jī)，包括：輸入模塊、自動(dòng)測(cè)試模塊和數(shù)據(jù)重構(gòu)模塊；

所述輸入模塊，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和所述測(cè)試儀器的狀態(tài)參數(shù)，并獲取所述待測(cè)產(chǎn)品和所述測(cè)試儀器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件；

所述自動(dòng)測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)指標(biāo)，生成自動(dòng)測(cè)試指令；

所述數(shù)據(jù)重構(gòu)模塊，用于配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，并根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，將數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令下發(fā)給校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器，以便所述校準(zhǔn)后的測(cè)試儀器進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。

3.如權(quán)利要求2所述的多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，并根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)自動(dòng)測(cè)試指令進(jìn)行數(shù)據(jù)重構(gòu)，包括：

為所述自動(dòng)測(cè)試指令的通信數(shù)據(jù)幀的對(duì)應(yīng)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式的命令類型字節(jié)賦值，以配置所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式；

根據(jù)所述待測(cè)產(chǎn)品的工作模式，對(duì)所述通信數(shù)據(jù)幀進(jìn)行組幀或幀數(shù)據(jù)字節(jié)內(nèi)容拼接，獲得數(shù)據(jù)重構(gòu)后的自動(dòng)測(cè)試指令。

4.如權(quán)利要求2所述的多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機(jī)，還包括：數(shù)據(jù)處理模塊；

所述數(shù)據(jù)處理模塊，用于對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，生成測(cè)試結(jié)果報(bào)表；以及根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行非線性插值擬合，獲得所述待測(cè)產(chǎn)品在預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)的溫補(bǔ)數(shù)據(jù)，并將所述溫補(bǔ)數(shù)據(jù)發(fā)送給所述待測(cè)產(chǎn)品；

所述數(shù)據(jù)重構(gòu)模塊，還用于對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)類型或數(shù)據(jù)格式進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以便所述數(shù)據(jù)處理模塊生成所述溫補(bǔ)數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試儀器包括溫箱、測(cè)試夾具和其它測(cè)試儀器；

所述溫箱，與所述上位機(jī)連接，其內(nèi)放置所述待測(cè)產(chǎn)品，用于控制所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試溫度；

所述測(cè)試夾具，與所述其它測(cè)試儀器連接，用于夾持所述待測(cè)產(chǎn)品；

所述其它測(cè)試儀器，用于測(cè)試所述待測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)指標(biāo)。

6.如權(quán)利要求5所述的多通道寬帶微波集成組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述其它測(cè)試儀器，至少包括以下任一種：示波器、信號(hào)源輸入設(shè)備、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀和微系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試臺(tái)。