[發明專利]一種基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法

有效

• 申請號: 202010400589.X
• 申請日: 2020-05-13
• 公開（公告）號: CN111685764B
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 王前鋒;王鶴;戴飛
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;陸尤

1.一種基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法，其特征在于，將信號的T1ρ演化與信號的T1、T2演化融合一起，使每個時間點采集的信號都包含T1、T2和T1ρ的成分；設計偽隨機變化的序列參數TSL、FA、TR和TE，通過Bloch方程中磁化矢量的演化，建立不同弛豫時間值組合的字典，將實際采集到的圖像序列與字典匹配，從而定量出T1ρ值，同時得到T1和T2值；其中，T1指縱向弛豫時間，T2指橫向弛豫時間，T1ρ指自旋-晶格弛豫時間；TSL為自旋鎖定時間，FA為翻轉角，TR為重復時間，TE為回波時間；具體步驟為：

（1）spin-lock準備部分：在傳統磁共振指紋成像序列前增加spin-lock準備脈沖；

（2）spin-lock準備部分結束后使用梯度散相殘余磁化矢量；

（3）數據采集：使用基于平面回波EPI采集方式采集圖像數據；或者施加180度重聚脈沖后EPI采集方式采集圖像數據；或者使用基于磁共振指紋成像技術的采集方式采集圖像數據，如采用翻轉恢復FISP序列、快速自旋回波序列、平衡式穩態自由進動序列及螺旋軌跡采集方式采集圖像數據；

（4）偽隨機設計序列參數，每次重復是TSL、FA、TR和TE的不同組合，信號按照如下公式演化：

最后將采集的圖像序列與字典匹配識別，同時定量出T1ρ、T1和T2，式中S₀是TSL為0時的信號強度。

2.根據權利要求1所述的基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法，其特征在于，步驟（1）中所述spin-lock準備部分，是沿著單方向的硬脈沖，或者是由兩個方向不同的硬脈沖組合，或者是在多個自旋鎖定脈沖之間增加非選擇性180度重聚脈沖。

3.根據權利要求2所述的基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法，其特征在于，步驟（2）中所述使用梯度散相殘余磁化矢量，是當spin-lock準備部分結束后在X,Y和Z軸中至少一個軸施加梯度，以散相XY平面內的殘余磁化矢量對后續成像的影響。

4.根據權利要求2所述的基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法，其特征在于，步驟（4）中所述偽隨機設計序列參數，除傳統磁共振指紋成像序列每次重復偽隨機改變序列參數FA、TR和TE外，融合T1ρ信號演化，偽隨機設計TSL參數，使得每次采集的信號都是不同TSL、FA、TR和TE的組合。

5.根據權利要求2所述的基于磁共振指紋成像的快速定量T1ρ的方法，其特征在于，步驟（4）中所述圖像序列與字典匹配，使用最小二乘法進行匹配，或者通過比較實際采集圖像序列與字典之間的相關性進行匹配，或者使用點積法進行匹配。