[發(fā)明專利]極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010397054.1
• 申請(qǐng)日: 2020-05-12
• 公開（公告）號(hào): CN111692990B
• 公開（公告）日: 2021-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳程成;陳蘭;曹樹波;唐云濤;鄒雅冰;趙振博
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號(hào): G01B11/24
• 分類號(hào): G01B11/24;G01B11/22;G01B11/14;G01B11/06;G01B11/02;G01B11/30;G01N21/88
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 林青中

本發(fā)明涉及一種極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法和裝置，該極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法包括如下步驟：獲得無焊接缺陷的極耳焊點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；獲得待測(cè)極耳焊點(diǎn)的測(cè)試參數(shù)；計(jì)算測(cè)試參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的差值比，并根據(jù)差值比或其絕對(duì)值判斷所述待測(cè)極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)；其中，標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和測(cè)試參數(shù)中的參數(shù)共同選自以下參數(shù)中的至少一個(gè)：極耳焊點(diǎn)的高度/深度、對(duì)角線長度、極耳焊點(diǎn)構(gòu)成的矩陣中單行兩焊點(diǎn)之間的間距。該檢測(cè)方法通過對(duì)極耳焊點(diǎn)的上述參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，能夠真實(shí)且準(zhǔn)確地反映出焊點(diǎn)的焊接情況。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電池技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電池的極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法和裝置。

背景技術(shù)

近年來，新能源汽車和各種便攜式電子設(shè)備逐漸在人類日常生活中大范圍普及，作為其供能部件的二次電池的安全性也顯得愈加重要。極耳是從二次電池的電芯中將正負(fù)極引出來的金屬導(dǎo)電體，作為連接外部設(shè)備與電芯的關(guān)鍵部件，其工藝質(zhì)量的優(yōu)劣也直接影響著電池的安全性。由于設(shè)備的誤差等原因，在極耳焊接的過程中，焊點(diǎn)通常可能會(huì)存在虛焊、過焊或分切毛刺等問題，上述問題會(huì)導(dǎo)致局部短路或是熱量聚集的情況產(chǎn)生，進(jìn)而出現(xiàn)電池鼓包、熱失控等安全隱患。

工業(yè)上對(duì)極耳焊點(diǎn)的焊接狀態(tài)的檢測(cè)通常是通過拉力測(cè)試進(jìn)行，以間接反映極耳與集流體之間的焊接強(qiáng)度，又或者是通過測(cè)試焊點(diǎn)電阻的方式，以間接反映極耳和集流體之間是否發(fā)生焊接。上述方法雖然檢測(cè)過程較為方便，但并不能真實(shí)地反映極耳焊點(diǎn)的焊接情況，無法有效檢測(cè)出一些虛焊和過焊的情況。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，本發(fā)明的目的之一在于提供一種能夠直接檢測(cè)極耳焊點(diǎn)焊接情況的方法，該檢測(cè)方法能夠反映極耳焊點(diǎn)真實(shí)的焊接狀態(tài)，以有效檢測(cè)出極耳焊點(diǎn)可能存在的虛焊和過焊的問題。

另一方面，本發(fā)明還提供了一種實(shí)現(xiàn)上述方法的極耳焊點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)高效檢測(cè)焊點(diǎn)的異常情況。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，該極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法包括如下過程：

獲得無焊接缺陷的極耳焊點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；

獲得待測(cè)極耳焊點(diǎn)的測(cè)試參數(shù)；

計(jì)算所述測(cè)試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的差值比，并根據(jù)所述差值比或其絕對(duì)值判斷所述待測(cè)極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)，所述差值比r＝|k*(t-s)/s|+c；其中，t為所述測(cè)試參數(shù)，s為所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，k為不等于零的系數(shù)，c為常數(shù)，“||”表示求絕對(duì)值；

所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和所述測(cè)試參數(shù)中的所述參數(shù)共同選自以下參數(shù)中的至少一個(gè)：極耳焊點(diǎn)的高度/深度、對(duì)角線長度、極耳焊點(diǎn)構(gòu)成的矩陣中單行兩焊點(diǎn)之間的間距。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括如下步驟：當(dāng)所述差值比大于預(yù)設(shè)差值比時(shí)，判定極耳焊點(diǎn)為異常焊點(diǎn)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括如下步驟：計(jì)算所述測(cè)試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的絕對(duì)差值，根據(jù)所述絕對(duì)差值與預(yù)設(shè)差值的大小判斷所述待測(cè)極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，使用共聚焦顯微鏡檢測(cè)所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和所述測(cè)試參數(shù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述共聚焦顯微鏡為紅外激光共聚焦顯微鏡。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括根據(jù)所述共聚焦顯微鏡對(duì)所述待測(cè)極耳焊點(diǎn)的成像圖，判斷焊點(diǎn)表面是否存在異常毛刺的步驟。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，獲取所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的方法為求多個(gè)無焊接缺陷的焊點(diǎn)的所述參數(shù)的平均值；優(yōu)選地，參與計(jì)算所述平均值的所述無焊接缺陷的極耳焊點(diǎn)的總數(shù)量不少于20。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括根據(jù)所述共聚焦顯微鏡對(duì)所述待測(cè)極耳焊點(diǎn)的成像圖，判斷焊點(diǎn)表面是否存在異常毛刺的步驟。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述極耳焊點(diǎn)檢測(cè)方法檢測(cè)的極耳焊點(diǎn)的焊接方式為電阻焊接、激光焊接或超聲波焊接。