[發(fā)明專利]極耳焊點(diǎn)檢測方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010397054.1
• 申請日: 2020-05-12
• 公開（公告）號: CN111692990B
• 公開（公告）日: 2021-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳程成;陳蘭;曹樹波;唐云濤;鄒雅冰;趙振博
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01B11/22;G01B11/14;G01B11/06;G01B11/02;G01B11/30;G01N21/88
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 林青中

1.一種極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

獲得無焊接缺陷的極耳焊點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；

獲得待測極耳焊點(diǎn)的測試參數(shù)；

計(jì)算所述測試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的差值比，并根據(jù)所述差值比或所述差值比的絕對值判斷所述待測極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)，所述差值比r＝|k*(t-s)/s|+c；其中，t為所述測試參數(shù)，s為所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，k為不等于零的系數(shù)，c為常數(shù)，“||”表示求絕對值；

所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和所述測試參數(shù)中的所述參數(shù)共同選自以下參數(shù)中的至少一個(gè)：極耳焊點(diǎn)的高度/深度、對角線長度、極耳焊點(diǎn)構(gòu)成的矩陣中單行兩焊點(diǎn)之間的間距。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，當(dāng)所述差值比大于預(yù)設(shè)差值比時(shí)，判定極耳焊點(diǎn)為異常焊點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，還包括如下步驟：計(jì)算所述測試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的絕對差值，根據(jù)所述絕對差值與預(yù)設(shè)差值的大小判斷所述待測極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，使用共聚焦顯微鏡檢測所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和所述測試參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，所述共聚焦顯微鏡為紅外激光共聚焦顯微鏡。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，還包括根據(jù)所述共聚焦顯微鏡對所述待測極耳焊點(diǎn)的成像圖，判斷焊點(diǎn)表面是否存在異常毛刺的步驟。

7.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，獲取所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的方法為求若干無焊接缺陷的焊點(diǎn)的對應(yīng)參數(shù)的平均值。

8.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，所述極耳焊點(diǎn)檢測方法檢測的極耳焊點(diǎn)的焊接方式為電阻焊接、激光焊接或超聲波焊接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的極耳焊點(diǎn)檢測方法，其特征在于，所述極耳焊點(diǎn)檢測方法檢測的極耳焊點(diǎn)的材質(zhì)為鋁、鎳、銅或其中至少一種金屬的合金。

10.一種極耳焊點(diǎn)檢測裝置，其特征在于，包括：

焊點(diǎn)檢測部件：所述焊點(diǎn)檢測部件用于檢測極耳焊點(diǎn)的形貌；

處理器部件：所述處理器部件能夠接收或獲得標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與預(yù)設(shè)差值；所述處理器部件用于對所述焊點(diǎn)檢測部件所得形貌進(jìn)行分析，得出待測極耳焊點(diǎn)的測試參數(shù)，計(jì)算所述測試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的差值比，并根據(jù)所述差值比判斷所述待測極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)，所述差值比r＝|k*(t-s)/s|+c；其中，t為所述測試參數(shù)，s為所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，k為不等于零的系數(shù)，c為常數(shù)，“||”表示求絕對值；所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)和所述測試參數(shù)中的所述參數(shù)共同選自以下參數(shù)中的至少一個(gè)：極耳焊點(diǎn)的高度/深度、對角線長度、極耳焊點(diǎn)構(gòu)成的矩陣中單行兩焊點(diǎn)之間的間距；

檢測輸出部件：所述檢測輸出部件用于輸出所述處理器部件的判斷結(jié)果。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的極耳焊點(diǎn)檢測裝置，其特征在于，所述處理器部件還用于計(jì)算所述測試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的差值，并根據(jù)所述差值判斷所述待測極耳焊點(diǎn)是否為異常焊點(diǎn)。