[發明專利]一種面向工業顆粒連片制品的全局定位的方法、裝置

在審

• 申請號: 202010380845.3
• 申請日: 2020-05-08
• 公開（公告）號: CN111553911A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 別曉輝;徐盼盼;別偉成;單書暢
• 申請（專利權）人: 視睿（杭州）信息科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/66;G06T7/73;G06T3/40;G06K9/38
• 代理公司: 杭州華知專利事務所(普通合伙) 33235
• 代理人: 李姣姣

1.一種面向工業顆粒連片制品的全局定位的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取多張工業顆粒連片制品分割圖像；

根據所述工業顆粒連片制品分割圖像，計算每個顆粒在所述工業顆粒連片制品分割圖像中的定位信息；

對多張所述工業顆粒連片制品分割圖像進行拼接，獲得工業顆粒連片制品全局圖像；所述工業顆粒連片制品全局圖像包括所述工業顆粒連片制品分割圖像的位置信息；

根據所述顆粒在所述工業顆粒連片制品分割圖像中的定位信息，以及所述工業顆粒連片制品分割圖像的位置信息，計算所述顆粒在所述工業顆粒連片制品全局圖像的定位信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述工業顆粒連片制品分割圖像，計算每個顆粒在所述工業顆粒連片制品分割圖像中的定位信息，包括：

將所述工業顆粒連片制品分割圖像進行二值化，獲得二值工業顆粒連片制品分割圖像；

根據所述二值工業顆粒連片制品分割圖像進行邊緣檢測，獲得工業顆粒連片制品目標圖像；

計算所述工業顆粒連片制品目標圖像的中心的像素坐標，得到所述工業顆粒連片制品目標圖像在所述二值工業顆粒連片制品分割圖像中的像素坐標；

其中，所述工業顆粒連片制品目標圖像在所述二值工業顆粒連片制品分割圖像中的像素坐標與顆粒在所述工業顆粒連片制品分割圖像中的像素坐標相同。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述二值工業顆粒連片制品分割圖像進行邊緣檢測，獲得工業顆粒連片制品目標圖像，包括：

根據所述二值工業顆粒連片制品分割圖像進行邊緣檢測，獲得邊緣目標圖像；

判斷所述邊緣目標圖像的尺寸是否在預設范圍內；

如果所述邊緣目標圖像的尺寸在預設范圍內，則所述邊緣目標圖像為工業顆粒連片制品目標圖像。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在計算所述工業顆粒連片制品目標圖像的中心的像素坐標，得到所述工業顆粒連片制品目標圖像在所述二值工業顆粒連片制品分割圖像中的像素坐標之后，包括：

根據任意相鄰的兩個所述工業顆粒連片制品目標圖像的中心距離計算參考距離；

將已知行列值的任一所述工業顆粒連片制品目標圖像確定為參考目標圖像；

判斷在所述參考目標圖像的鄰域范圍內的未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像，與所述參考目標圖像的中心距離是否小于所述參考距離；

在與所述參考目標圖像的中心距離小于所述參考距離時，根據所述參考目標圖像的行列值，計算所述未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像的行列值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述參考距離包含水平參考距離和垂直參考距離；

所述判斷在所述參考目標圖像的鄰域范圍內的未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像，與所述參考目標圖像的距離是否小于所述參考距離，包括：

判斷在所述參考目標圖像的鄰域范圍內的未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像，與所述參考目標圖像的水平距離是否小于水平參考距離，以及垂直距離是否小于所述垂直參考距離；

所述在所述距離小于所述參考距離時，根據所述參考目標圖像的行列值，計算所述未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像的行列值，包括：

在所述水平距離小于水平參考距離，以及垂直距離小于所述垂直參考距離時，根據所述參考目標圖像的行列值，計算所述未知行列值的所述工業顆粒連片制品目標圖像的行列值。