[發(fā)明專(zhuān)利]電容外觀的檢測(cè)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010366304.5
• 申請(qǐng)日: 2020-04-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111553906B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊智慧;周海民;黃劍暉
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 珠海格力智能裝備有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06T7/00
• 分類(lèi)號(hào): G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 董文倩

本發(fā)明公開(kāi)了一種電容外觀的檢測(cè)方法及裝置。其中，該方法包括：獲取電容的多張圖像；對(duì)多張圖像進(jìn)行分組，得到多組圖像，其中，多組圖像中的每一組圖像均包括預(yù)定數(shù)量的圖像；對(duì)多組圖像進(jìn)行處理，得到多個(gè)處理結(jié)果；根據(jù)多個(gè)處理結(jié)果判定電容是否為合格產(chǎn)品。本發(fā)明解決了關(guān)技術(shù)中用于對(duì)電容進(jìn)行外觀檢測(cè)的方式不夠合理，容易在電容外觀檢測(cè)過(guò)程中存在誤判，可靠性較低的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種電容外觀的檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

目前，檢測(cè)電容凹凸的方法是將電容勻速轉(zhuǎn)動(dòng)，加背光源，相機(jī)運(yùn)動(dòng)飛拍，采集多張圖像，對(duì)采集的多張圖像進(jìn)行處理，以對(duì)電容外殼進(jìn)行檢測(cè)，例如，檢測(cè)電容外殼上是否存在凹凸。但是，由于電容本身側(cè)面不是一條直線，而且產(chǎn)品轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中存在搖擺和中心偏移的現(xiàn)象，導(dǎo)致合格品誤判為凹凸的不合格品。

針對(duì)上述相關(guān)技術(shù)中用于對(duì)電容進(jìn)行外觀檢測(cè)的方式不夠合理，容易在電容外觀檢測(cè)過(guò)程中存在誤判，可靠性較低的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容外觀的檢測(cè)方法及裝置，以至少解決關(guān)技術(shù)中用于對(duì)電容進(jìn)行外觀檢測(cè)的方式不夠合理，容易在電容外觀檢測(cè)過(guò)程中存在誤判，可靠性較低的技術(shù)問(wèn)題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種電容外觀的檢測(cè)方法，包括：獲取電容的多張圖像；對(duì)所述多張圖像進(jìn)行分組，得到多組圖像，其中，所述多組圖像中的每一組圖像均包括預(yù)定數(shù)量的圖像；對(duì)所述多組圖像進(jìn)行處理，得到多個(gè)處理結(jié)果；根據(jù)所述多個(gè)處理結(jié)果判定所述電容是否為合格產(chǎn)品。

可選地，所述獲取電容的多張圖像，包括：響應(yīng)于電容檢測(cè)指令，觸發(fā)圖像采集設(shè)備啟動(dòng)，以采集所述電容的多張圖像。

可選地，所述對(duì)所述多張圖像進(jìn)行分組，得到多組圖像，包括：根據(jù)所述多張圖像的數(shù)量，確定對(duì)所述多張圖像進(jìn)行分組時(shí)的組數(shù)；基于所述多張圖像的數(shù)量以及所述組數(shù)將所述多張圖像平均分為所述多組圖像。

可選地，所述對(duì)所述多組圖像進(jìn)行處理，得到多個(gè)處理結(jié)果，包括：確定所述多組圖像中每一組圖像中的第一張圖像；對(duì)所述每一組圖像中的第一張圖像進(jìn)行區(qū)域劃分，并提取出所述每一組圖像中的第一張圖像的圖像區(qū)域?qū)?yīng)的圖像頂部區(qū)域；提取所述圖像頂部區(qū)域的灰度值，并計(jì)算得到平均灰度值；基于所述平均灰度值判定所述電容是否倒下或甩出；若是，則對(duì)所述每一組圖像中除第一張圖像的其他圖像進(jìn)行區(qū)域劃分，并對(duì)區(qū)域劃分后的圖像區(qū)域進(jìn)行處理，得到所述多個(gè)處理結(jié)果；若否，則生成報(bào)警信息。

可選地，所述對(duì)所述每一組圖像中除第一張圖像的其他圖像進(jìn)行區(qū)域劃分，并對(duì)區(qū)域劃分后的圖像區(qū)域進(jìn)行處理，得到所述多個(gè)處理結(jié)果，包括：提取所述每一組圖像每一組圖像的預(yù)定圖像區(qū)域；基于所述預(yù)定圖像區(qū)域?qū)λ鲭娙葸M(jìn)行邊緣線檢測(cè)，得到所述電容的邊緣點(diǎn)的邊緣坐標(biāo)點(diǎn)；確定所述預(yù)定圖像區(qū)域中邊緣點(diǎn)的距離；將所述每一組圖像中除第一張圖像的其他圖像區(qū)域與所述第一張圖像進(jìn)行做差處理，得到所述電容的尺寸數(shù)據(jù)；基于所述邊緣點(diǎn)坐標(biāo)以及所述電容的尺寸數(shù)據(jù)得到所述多個(gè)處理結(jié)果。

可選地，所述基于所述平均灰度值判定所述電容是否倒下或甩出，包括：將所述平均灰度值與預(yù)設(shè)灰度值進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)結(jié)果；若所述比對(duì)結(jié)果表示所述平均灰度值大于所述預(yù)設(shè)灰度值，則確定所述電容倒下或甩出；若所述比對(duì)結(jié)果表示所述平均灰度值不大于所述預(yù)設(shè)灰度值，則確定所述電容未倒下或甩出。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外一個(gè)方面，還提供了一種電容外觀的檢測(cè)裝置，包括：獲取單元，用于獲取電容的多張圖像；分組單元，用于對(duì)所述多張圖像進(jìn)行分組，得到多組圖像，其中，所述多組圖像中的每一組圖像均包括預(yù)定數(shù)量的圖像；處理單元，用于對(duì)所述多組圖像進(jìn)行處理，得到多個(gè)處理結(jié)果；判定單元，用于根據(jù)所述多個(gè)處理結(jié)果判定所述電容是否為合格產(chǎn)品。

可選地，所述獲取單元，包括：采集模塊，用于響應(yīng)于電容檢測(cè)指令，觸發(fā)圖像采集設(shè)備啟動(dòng)，以采集所述電容的多張圖像。