[發明專利]一種頻綜綜合測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 202010360717.2
• 申請日: 2020-04-30
• 公開（公告）號: CN111505593B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 李玉爽;陳利彬;杜強燚;徐超;聶濤
• 申請（專利權）人: 北京無線電測量研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 厲洋洋

本發明涉及一種頻綜綜合測試系統及測試方法。測試系統包括：PXI機箱、PXI控制器、同步分配組件、網絡數傳組件、開關陣列組件、路由器和至少一種測試儀器；同步分配組件的同步信號輸入端與待測頻綜的同步信號輸出端連接，其同步信號輸出端與網絡數傳組件和至少一種測試儀器連接；網絡數傳組件的網絡端口與待測頻綜的網絡端口連接；開關陣列組件的輸入端與待測頻綜的測試端口連接，其輸出端與至少一種測試儀器連接；至少一種測試儀器通過路由器與所述PXI控制器連接。本發明實施例提供的頻綜綜合測試系統可實現待測頻綜的自動化同步測試，保證測試結果的準確性和可靠性，大大提高了測試效率，縮減了測試時間，降低了人力成本。

技術領域

本發明涉及仿真測試技術領域，尤其涉及一種頻綜綜合測試系統及測試方法。

背景技術

頻綜分系統是雷達系統的組成部分，為雷達系統提供頻率基準信號、發射激勵信號、本振信號及激勵信號等。其信號種類多、測試指標復雜，工作量大，以往的手動測試方法在面對批產后的龐大的測試需求量時，難以保證測試結果的一致性和可靠性，同時也難以驗證系統長時間的工作穩定性，測試效率低，測試時間與人力成本消耗過高。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術存在的問題，提供一種頻綜綜合測試系統及測試方法。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供一種頻綜綜合測試系統，包括：PXI機箱、PXI控制器、同步分配組件、網絡數傳組件、開關陣列組件、路由器和至少一種測試儀器；

所述PXI控制器、同步分配組件、網絡數傳組件和開關陣列組件依次插入PXI機箱的槽位中，并通過PXI總線相互連接；所述同步分配組件的同步信號輸入端與待測頻綜的同步信號輸出端連接，其同步信號輸出端與所述網絡數傳組件和至少一種所述測試儀器連接；所述網絡數傳組件的網絡端口與待測頻綜的網絡端口連接；所述開關陣列組件的輸入端與所述待測頻綜的測試端口連接，其輸出端與所述至少一種測試儀器連接；所述至少一種測試儀器通過所述路由器與所述PXI控制器連接。

為解決上述技術問題，本發明實施例還提供一種頻綜綜合測試方法，利用上述技術方案所述的頻綜綜合測試系統實現如下步驟：

根據PXI控制器的控制，同步分配組件接收或自生成待測頻綜的同步信號，網絡數傳組件以所述同步信號為基礎實現對待測頻綜的控制；測試儀器以所述同步信號為基礎通過開關陣列組件接收待測頻綜發送的射頻信號，并將測試結果通過路由器傳輸給PXI控制器，完成待測頻綜的同步測試。

本發明的有益效果是：通過PXI控制器、同步分配組件、網絡數傳組件、開關陣列組件、路由器和至少一種測試儀器的協同配合，可實現待測頻綜的自動化同步測試，保證測試結果的準確性和可靠性，大大提高了測試效率，縮減了測試時間，降低了人力成本。

本發明附加的方面及其的優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明實踐了解到。

附圖說明

圖1為本發明實施例提供的頻綜綜合測試系統結構框圖；

圖2為本發明一實施例提供的同步分配組件結構框圖；

圖3為本發明另一實施例提供的網絡數傳組件結構框圖；

圖4為本發明另一實施例提供的開關陣列組件結構框圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本發明，并非用于限定本發明的范圍。

圖1為本發明實施例提供的頻綜綜合測試系統結構框圖。如圖1所示，該系統包括：PXI機箱1、PXI控制器2、同步分配組件3、網絡數傳組件4、開關陣列組件、路由器18和至少一種測試儀器。