[發明專利]面板的檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 202010346722.8
• 申請日: 2020-04-28
• 公開（公告）號: CN111427176B
• 公開（公告）日: 2022-12-23
• 發明（設計）人: 王定力
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 張曉薇

本申請公開了一種面板檢測系統。面板檢測系統包括陣列檢測數據模塊，配置為檢測面板與提供陣列檢測數據組；成盒檢測數據模塊，配置為檢測面板與提供成盒檢測數據組；以及數據整合模塊，配置為接收陣列檢測數據組與成盒檢測數據組，分析陣列檢測數據組與成盒檢測數據組的至少一者以提供面板身分文件，以及依據面板身分文件指示成盒檢測數據模塊檢測面板。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，具體涉及一種面板的檢測系統及檢測方法。

背景技術

液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)具有高畫面質量、體積小、重量輕等優點，廣泛應用于移動電話、筆記本電腦、電視機以及顯示器等產品，薄膜晶體管(ThinFilm Transistor，TFT)-LCD是其中一種類型。TFT-LCD制造流程一般依序具有陣列制程、成盒制程與模塊制程，然后提交給客戶。然而在成盒制程中常出現可見缺陷，其中部分缺陷無法被檢出而漏放到模塊制程，降低產品良率。有時甚至漏放到客戶，影響公司的形象。其中陣列制程及成盒制程只服務于各自當下制程，陣列制程及成盒制程的檢測信息無法相互配合使用，無法提升陣列制程及成盒制程的檢測單元能力。

發明內容

本申請實施例提供一種面板的檢測系統及檢測方法，針對通過陣列制程各個檢測站點的檢測數據進行分析，加強攔檢，推測與評估制程中通知遺失、漏放及制程問題，實現好的良率或提升良率。

本申請實施例提供一種面板檢測系統，用以檢測面板，包括陣列檢測數據模塊，配置為檢測面板與提供陣列檢測數據組；成盒檢測數據模塊，配置為檢測面板與提供成盒檢測數據組；以及數據整合模塊，配置為接收陣列檢測數據組與成盒檢測數據組，分析陣列檢測數據組與成盒檢測數據組的至少一者以提供面板身分文件，以及依據面板身分文件指示成盒檢測數據模塊檢測面板。

在一些實施例中，面板身分文件包括面板的缺陷等級、缺陷編碼、缺陷坐標與站點坐標的至少一者。

在一些實施例中，成盒檢測數據模塊包括成盒檢測單元，配置為接收數據整合模塊的指示進行攔檢面板、面板轉等與面板鎖等的至少一者。

在一些實施例中，數據整合模塊配置為依據面板身分文件指示陣列檢測數據模塊檢測面板，以及陣列檢測數據模塊包括陣列檢測單元，配置為接收數據整合模塊的指示進行攔檢面板或修補。

本申請實施例提供一種面板檢測方法，用以檢測面板，包括檢測面板以提供陣列檢測數據組與成盒檢測數據組；分析陣列檢測數據組與成盒檢測數據組的至少一者以提供面板身分文件；以及依據面板身分文件對面板進行成盒檢測。

在一些實施例中，面板身分文件包括面板的缺陷等級、缺陷編碼、缺陷坐標與站點坐標的至少一者。

在一些實施例中，面板檢測方法還包括分析成盒檢測數據組與面板身分文件以提供成盒待檢數據組；以及依據成盒待檢數據組進行成盒檢測。

在一些實施例中，成盒檢測包括進行攔檢面板、面板轉等與面板鎖等的至少一者。

在一些實施例中，成盒檢測包括進行面板坐標轉換。

在一些實施例中，面板檢測方法還包括分析成盒檢測數據組與面板身分文件以提供陣列待檢數據組；以及依據陣列待檢數據組進行陣列檢測。

本申請實施例提供的一種面板的檢測系統及檢測方法，通過陣列制程各個檢測站點檢測數據進行分析，在成盒制程準備出貨，進行通電測試前整理與評估各個檢測站點的檢測數據。通過數據整合模塊整合陣列檢測數據模塊與成盒檢測數據模塊的檢測數據，加強成盒制程段攔檢，搭配陣列檢測數據，推測與評估陣列制程中通知遺失、漏放及制程問題，實現好的良率或提升良率，并據以評估得出可實現的技術方案。

附圖說明

下面結合附圖，通過對本申請的具體實施方式詳細描述，將使本申請的技術方案及其它有益效果顯而易見。