[發明專利]面板的檢測系統及檢測方法有效
| 申請號： | 202010346722.8 | 申請日： | 2020-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN111427176B | 公開（公告）日： | 2022-12-23 |
| 發明（設計）人： | 王定力 | 申請（專利權）人： | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人： | 張曉薇 |
| 地址： | 518132 廣東省深*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 面板 檢測 系統 方法 | ||
1.一種面板檢測系統，用以檢測面板，其特征在于，包括：
陣列檢測數據模塊，配置為檢測所述面板與提供陣列檢測數據組；
成盒檢測數據模塊，配置為檢測所述面板與提供成盒檢測數據組；
以及
數據整合模塊，配置為接收所述陣列檢測數據組與所述成盒檢測數據組，分析所述陣列檢測數據組與所述成盒檢測數據組的至少一者以提供面板身分文件，以及依據所述面板身分文件指示所述成盒檢測數據模塊檢測所述面板；
所述數據整合模塊更配置為依據所述面板身分文件指示所述陣列檢測數據模塊檢測所述面板，以及所述陣列檢測數據模塊包括陣列檢測單元，配置為接收所述數據整合模塊的指示進行攔檢面板或修補。
2.如權利要求1所述的面板檢測系統，其特征在于，所述面板身分文件包括所述面板的缺陷等級、缺陷編碼、缺陷坐標與站點坐標的至少一者。
3.如權利要求1所述的面板檢測系統，其特征在于，所述成盒檢測數據模塊包括成盒檢測單元，配置為接收所述數據整合模塊的指示進行攔檢面板、面板轉等與面板鎖等的至少一者。
4.一種面板檢測方法，其特征在于，采用如權利要求1至3中任一項所述的面板檢測系統，包括：
檢測所述面板以提供陣列檢測數據組與成盒檢測數據組；
分析所述陣列檢測數據組與所述成盒檢測數據組的至少一者以提供面板身分文件；以及
依據所述面板身分文件對所述面板進行成盒檢測。
5.如權利要求4所述的面板檢測方法，其特征在于，所述面板身分文件包括所述面板的缺陷等級、缺陷編碼、缺陷坐標與站點坐標的至少一者。
6.如權利要求4所述的面板檢測方法，其特征在于，還包括：
分析所述成盒檢測數據組與所述面板身分文件以提供成盒待檢數據組；以及
依據所述成盒待檢數據組進行成盒檢測。
7.如權利要求4所述的面板檢測方法，其特征在于，所述進行成盒檢測包括進行攔檢面板、面板轉等與面板鎖等的至少一者。
8.如權利要求4所述的面板檢測方法，其特征在于，所述進行成盒檢測包括進行面板坐標轉換。
9.如權利要求4所述的面板檢測方法，其特征在于，還包括：
分析所述成盒檢測數據組與所述面板身分文件以提供陣列待檢數據組；以及
依據所述陣列待檢數據組進行陣列檢測。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司，未經深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010346722.8/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
