[發(fā)明專利]一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件、制作工藝及電子產(chǎn)品在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010345922.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111564438A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張富生;許成宗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海韋爾半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/02 | 分類號(hào): | H01L27/02;H01L27/082;H01L21/8222;H01L29/06 |
| 代理公司: | 深圳睿臻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44684 | 代理人: | 張海燕 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 瞬態(tài) 電壓 抑制 保護(hù) 器件 制作 工藝 電子產(chǎn)品 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件、制作工藝及電子產(chǎn)品,所述瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件包括,襯底,第一阱,第二阱,第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);所述第一阱和第二阱依次從左到右相互間隔設(shè)置在所述襯底上,所述第一阱和第二阱摻雜類型相同,且分別與所述襯底的摻雜類型相反,所述第一阱和第二阱分別設(shè)置有摻雜類型相反的第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);所述電子產(chǎn)品包括上述瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件,本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的技術(shù)方案可以在較低電壓下觸發(fā)開(kāi)啟保護(hù),并且電容很小,同時(shí)制作工藝簡(jiǎn)單。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件、制作工藝及電子產(chǎn)品。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品信號(hào)傳輸速率不斷增加,后端IC器件工藝制程越來(lái)越先進(jìn),電子產(chǎn)品對(duì)ESD(靜電釋放)和EOS(電氣過(guò)應(yīng)力)的承受能力越來(lái)弱,這就需要增加瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件(TVS)對(duì)電子產(chǎn)品后端IC進(jìn)行防護(hù),同時(shí)對(duì)TVS器件提出更高的要求。
現(xiàn)有低電容TVS產(chǎn)品存在工藝復(fù)雜,觸發(fā)電壓較高問(wèn)題,對(duì)后端IC防護(hù)存在很大問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供的實(shí)施例一個(gè)目的在于克服上述問(wèn)題或者至少部分地解決或緩減上述問(wèn)題。
本發(fā)明提供的實(shí)施例另一目的在于提供一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件、制作工藝及電子產(chǎn)品,可以在較低電壓下觸發(fā)開(kāi)啟保護(hù)功能,并且器件電容很小,制作工藝簡(jiǎn)單。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件,包括,襯底,第一阱,第二阱,第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);
所述第一阱和第二阱依次從左到右相互間隔設(shè)置在所述襯底上,所述第一阱和第二阱摻雜類型相同,且分別與所述襯底的摻雜類型相反,所述第一阱和第二阱分別設(shè)置有摻雜類型相反的第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);
所述襯底作為共用集電極,所述第一阱和第二阱分別作為基極,所述第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū)分別通過(guò)金屬連接作為發(fā)射極引出。
作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,所述第一阱和第二阱分別與所述襯底之間形成的pn結(jié)的結(jié)深相同,所述第一注入?yún)^(qū)和所述第二注入?yún)^(qū)分別與所述第一阱和第二阱之間形成的pn結(jié)的結(jié)深相同。
作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,所述第一阱和第二阱摻雜濃度相同,所述第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū)摻雜濃度相同。
作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,所述第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū)分別設(shè)置在所述第一阱和第二阱中央位置。
作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,所述第一阱和第二阱之間間隔距離為5-20um。
作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,所述襯底作為集電極的電阻率為30-1500Ω·cm。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件,通過(guò)在襯底上形成從左到右相互間隔設(shè)置的第一阱和第二阱,其中,第一阱和第二阱摻雜類型相同,且分別與襯底的摻雜類型相反,所述第一阱和第二阱分別設(shè)置有摻雜類型相反的第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū),通過(guò)將兩個(gè)第一阱和第二阱共用一個(gè)襯底作為共用集電極,這樣可以利用半導(dǎo)體穿通特性,解決了高阻襯底三極管單向截止特性導(dǎo)致器件無(wú)法正常單獨(dú)應(yīng)用的問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供的保護(hù)器件由兩個(gè)共用集電極的基極開(kāi)路三極管串聯(lián),可以在較低電壓下觸發(fā)開(kāi)啟保護(hù),可以使器件電容減半,獲得更小的電容,同時(shí)有更高抗浪涌和靜電能力。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種瞬態(tài)電壓抑制保護(hù)器件,包括,襯底,外延層,第一阱,第二阱,第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);
所述外延層設(shè)置在所述襯底上,所述第一阱和第二阱依次從左到右相互間隔設(shè)置在所述外延層上,所述第一阱和第二阱摻雜類型相同,且分別與所述外延層的摻雜類型相反,所述第一阱和第二阱分別設(shè)置有摻雜類型相反的第一注入?yún)^(qū)和第二注入?yún)^(qū);
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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