[發(fā)明專利]一種顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010345890.5
• 申請(qǐng)日: 2020-04-27
• 公開（公告）號(hào): CN111476788B
• 公開（公告）日: 2023-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于常青;洪志坤;鄭增強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢精立電子技術(shù)有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G01N21/45
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224
• 代理人: 李佑宏

1.一種顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括步驟：

在一個(gè)周期內(nèi)將相位不同的N幅光柵條紋投影至參考平面，采集具有對(duì)應(yīng)相位的N幅參考條紋圖，根據(jù)所述N幅參考條紋圖獲得參考平面相位圖；

將具有透明夾層的顯示屏置于參考平面，在一個(gè)周期內(nèi)將所述相位不同的N幅光柵條紋投影至所述顯示屏，采集具有對(duì)應(yīng)相位的N幅檢測(cè)條紋圖，根據(jù)所述N幅檢測(cè)條紋圖獲得檢測(cè)平面相位圖；

將所述檢測(cè)平面相位圖與參考平面相位圖相減獲得相位差圖像，根據(jù)相位差圖像和實(shí)際高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系獲取缺陷區(qū)域?qū)?yīng)的漫反射臺(tái)階，依據(jù)所述漫反射臺(tái)階的高度和所述漫反射臺(tái)階的位置，確定所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息；

其中，N為≥3的整數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)相位差圖像和實(shí)際高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系獲取所述缺陷區(qū)域在參考平面的高度分布，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息包括：

獲取相位差和高度差的映射關(guān)系，根據(jù)所述映射關(guān)系計(jì)算相位差圖像上中所有像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)缺陷區(qū)域的高度分布三維坐標(biāo)，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中的位置信息。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述光柵條紋投影序列符合正弦或余弦分布。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，

所述在一個(gè)周期內(nèi)將相位不同的N幅光柵條紋投影至參考平面包括：對(duì)所述光柵條紋進(jìn)行N步相移并投影至參考平面，依次生成對(duì)應(yīng)參考條紋圖，N幅參考條紋圖之間的相位差相同；

所述在一個(gè)周期內(nèi)將所述相位不同的N幅光柵條紋投影至所述顯示屏包括：對(duì)所述光柵條紋進(jìn)行N步相移并投影至顯示屏，依次生成對(duì)應(yīng)檢測(cè)條紋圖，N幅檢測(cè)條紋圖之間的相位差相同。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，

所述采集具有對(duì)應(yīng)相位的N幅參考條紋圖包括：對(duì)所述參考條紋圖進(jìn)行曝光值調(diào)整和畸變矯正成像；

所述采集具有對(duì)應(yīng)相位的N幅檢測(cè)條紋圖包括：對(duì)所述檢測(cè)條紋圖進(jìn)行曝光值調(diào)整和畸變矯正成像；

其中，所述畸變矯正包括根據(jù)原始的參考條紋圖和檢測(cè)條紋圖與標(biāo)準(zhǔn)正弦或余弦序列分布的偏差改變投影光源的光強(qiáng)分布，以使所述參考條紋圖和檢測(cè)條紋圖中的條紋序列呈正弦周期或余弦周期分布。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，

所述根據(jù)所述N幅參考條紋圖獲得參考平面相位圖包括：在所述N幅參考條紋圖中提取同一像素位置對(duì)應(yīng)的N個(gè)灰度值，計(jì)算該像素位置對(duì)應(yīng)的相位值以獲取參考平面相位圖；

所述根據(jù)所述N幅檢測(cè)條紋圖獲得檢測(cè)平面相位圖包括：在所述N幅檢測(cè)條紋圖中提取同一像素位置對(duì)應(yīng)的N個(gè)灰度值，計(jì)算該像素位置對(duì)應(yīng)的相位值以獲取檢測(cè)平面相位圖。

7.一種顯示屏夾層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：

智能控制單元，用于生成一個(gè)周期內(nèi)空間頻率可變、相位不同分布的條紋投影圖案，并輸入至結(jié)構(gòu)光源單元；

結(jié)構(gòu)光源單元，其包括發(fā)光面陣，用于接受所述條紋投影圖案并通過所述發(fā)光面陣顯示輸出對(duì)應(yīng)的光柵條紋；

成像模組單元，用于采集N幅參考條紋圖和檢測(cè)條紋圖；

圖像處理單元，用于根據(jù)所述N幅參考條紋圖獲得參考平面相位圖，根據(jù)所述N幅檢測(cè)條紋圖獲得檢測(cè)平面相位圖，將所述檢測(cè)平面相位圖與參考平面相位圖相減獲得相位差圖像，并根據(jù)相位差圖像和實(shí)際高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系獲取缺陷區(qū)域?qū)?yīng)的漫反射臺(tái)階，依據(jù)所述漫反射臺(tái)階的高度和所述漫反射臺(tái)階的位置，確定所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息；

標(biāo)準(zhǔn)高度量塊，用于建立相位差圖像和實(shí)際高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示屏夾層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，

所述圖像處理單元獲取相位差和高度差的映射關(guān)系，根據(jù)所述映射關(guān)系計(jì)算相位差圖像上中所有像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)缺陷區(qū)域的高度分布三維坐標(biāo)，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中的位置信息；

所述標(biāo)準(zhǔn)高度量塊建立相位差和高度差的映射關(guān)系。