[發(fā)明專利]一種顯示屏夾層缺陷檢測方法及系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111476788B
• 公開（公告）日: 2023-08-25
• 發(fā)明（設計）人: 于常青;洪志坤;鄭增強
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G01N21/45
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 李佑宏

本發(fā)明提供一種顯示屏夾層缺陷檢測方法及系統(tǒng)，方法包括：在一個周期內將相位不同的N幅光柵條紋投影至參考平面，采集具有對應相位的N幅參考條紋圖，獲得參考平面相位圖；將具有透明夾層的顯示屏置于參考平面，在一個周期內將相位不同的N幅光柵條紋投影至顯示屏，采集具有對應相位的N幅檢測條紋圖，獲得檢測平面相位圖；將檢測平面相位圖與參考平面相位圖相減獲得相位差圖像，根據(jù)相位差圖像和實際高度的對應關系獲取缺陷區(qū)域在參考平面的高度分布，從而獲取缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息。該方法相對于其它方法可靠性和耐用性更高，成本更低，且具有高靈敏、高精度、快速等優(yōu)點。

技術領域

本發(fā)明涉及面板/顯示屏檢測技術領域，尤其涉及一種顯示屏夾層缺陷檢測方法及系統(tǒng)。

背景技術

目前，大多顯示屏為多層結構，由外到內依次為：蓋板玻璃、觸控功能層、顯示層和背光板。因此，在生產(chǎn)顯示屏過程中，雖然在超潔凈車間中，但難免有些瑕疵和灰塵落在蓋板上面，在表面的還好清理，一但漏檢，流到下一工序，成為夾層中的缺陷，就成為NG品，不僅浪費材料、也浪費生產(chǎn)資源及時間，同時也增加了整機NG的風險。因此，是生產(chǎn)過程中重點控制的內容，也是顯示模組缺陷檢測的難點。

目前對顯示屏的檢測主要有紫外光照射法、光譜共焦檢測、激光共聚焦掃描等方案。但是，這些檢測系統(tǒng)都對檢測條件要求較高或是檢測速度較慢或是檢測精度不高，例如紫外光照射法有紫外輻照風險，其它檢測方法又有機械結構/控制復雜、要求精度高，成本高、效率低、耗時間等問題。

發(fā)明內容

針對現(xiàn)有技術的以上改進需求，本發(fā)明提供了一種顯示屏夾層缺陷檢測方法及系統(tǒng)。其中，本發(fā)明采用結構光投影與圖像采集方案，應用于多層透明的板材(平板或曲板)介質，通過特征提取及相位計算獲取多層板夾層中可能存在的缺陷區(qū)域位于哪一層。

為實現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的一個方面，提供了一種顯示屏夾層缺陷檢測方法，包括步驟：

在一個周期內將相位不同的N幅光柵條紋投影至參考平面，采集具有對應相位的N幅參考條紋圖，根據(jù)所述N幅參考條紋圖獲得參考平面相位圖；

將具有透明夾層的顯示屏置于參考平面，在一個周期內將所述相位不同的N幅光柵條紋投影至所述顯示屏，采集具有對應相位的N幅檢測條紋圖，根據(jù)所述N幅檢測條紋圖獲得檢測平面相位圖；

將所述檢測平面相位圖與參考平面相位圖相減獲得相位差圖像，根據(jù)相位差圖像和實際高度的對應關系獲取所述缺陷區(qū)域在參考平面的高度分布，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息；

其中，N為≥3的整數(shù)。

優(yōu)選地，所述根據(jù)相位差圖像和實際高度的對應關系獲取所述缺陷區(qū)域在參考平面的高度分布，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中位置信息包括：獲取相位差和高度差的映射關系，根據(jù)所述映射關系計算相位差圖像上中所有像素點對應缺陷區(qū)域的高度分布三維坐標，從而獲取所述缺陷區(qū)域在顯示屏夾層中的位置信息。

優(yōu)選地，所述光柵條紋投影序列符合正弦或余弦分布。

優(yōu)選地，所述在一個周期內將相位不同的N幅光柵條紋投影至參考平面包括：對所述光柵條紋進行N步相移并投影至參考平面，依次生成對應參考條紋圖，N幅參考條紋圖之間的相位差相同；

所述在一個周期內將所述相位不同的N幅光柵條紋投影至所述顯示屏包括：對所述光柵條紋進行N步相移并投影至顯示屏，依次生成對應檢測條紋圖，N幅檢測條紋圖之間的相位差相同。

優(yōu)選地，所述采集具有對應相位的N幅參考條紋圖包括：對所述參考條紋圖進行曝光值調整和畸變矯正成像；

所述采集具有對應相位的N幅檢測條紋圖包括：對所述檢測條紋圖進行曝光值調整和畸變矯正成像；