[發(fā)明專利]PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010345382.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113642281A | 公開(公告)日: | 2021-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘭銀華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江宇視科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/392 | 分類號(hào): | G06F30/392;G06F30/398 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 310051 浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道江陵路*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pcb 設(shè)計(jì)圖 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 介質(zhì) | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。所述方法包括:確定PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域和限制區(qū)域;構(gòu)建目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和限制區(qū)域的限制外接邊框;對(duì)目標(biāo)外接邊框和限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測(cè),用以確定兩個(gè)外接邊框是否相交;依據(jù)邊框相交檢測(cè)結(jié)果,確定目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求。采用本申請(qǐng)的方案,能夠借助構(gòu)建的外接圖形之間的相交結(jié)果,來自動(dòng)識(shí)別PCB設(shè)計(jì)圖中的器件封裝區(qū)或絲印區(qū)是否出現(xiàn)位置設(shè)計(jì)錯(cuò)誤,提高PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)效率;并且由于是對(duì)外接圖形之間的相交性進(jìn)行檢測(cè),因此能將不符合要求的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域最大程度的篩選處理,提高了PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。
背景技術(shù)
PCB(Printed Circuit Board,印刷電路板)作為一種重要的電子部件,是各種電子元器件電器連接的載體,幾乎應(yīng)用于所有的電子設(shè)備。
目前,因?yàn)樯a(chǎn)加工限制,結(jié)構(gòu)限制,以及PCB相關(guān)設(shè)計(jì)要求,一些區(qū)域內(nèi)禁止放置器件,或者某兩個(gè)特定的區(qū)域禁止有交集,比如,判斷器件是否進(jìn)入工裝區(qū)域,判斷絲印是否進(jìn)入亮銅區(qū)域等。然而,這些均需是通過人工操作來進(jìn)行目檢,檢測(cè)效率比較低,且會(huì)產(chǎn)生遺漏問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例中提供了一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì),以實(shí)現(xiàn)高效檢測(cè)元器件封裝區(qū)和絲印區(qū)在PCB設(shè)計(jì)圖中的布局是否合理。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例中提供了一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法,包括:
確定PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域和限制區(qū)域;
構(gòu)建所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和所述限制區(qū)域的限制外接邊框;
對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測(cè),用以確定兩個(gè)外接邊框是否相交;
依據(jù)邊框相交檢測(cè)結(jié)果,確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例中還提供了一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)裝置,包括:
布局區(qū)域確定模塊,用于確定PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域和限制區(qū)域
外接圖形構(gòu)建模塊,用于構(gòu)建所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和所述限制區(qū)域的限制外接邊框;
外接圖形檢測(cè)模塊,用于對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測(cè),用以確定兩個(gè)外接邊框是否相交;
PCB設(shè)計(jì)圖檢測(cè)模塊,用于依據(jù)邊框相交檢測(cè)結(jié)果,確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求。
第三方面,本發(fā)明實(shí)施例中還提供了一種電子設(shè)備,包括:
一個(gè)或多個(gè)處理裝置;
存儲(chǔ)裝置,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序;
當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理裝置執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理裝置實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例中任一所述的PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法。
第四方面,本發(fā)明實(shí)施例中還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,該程序被處理裝置執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例中任一所述的PCB設(shè)計(jì)圖的檢測(cè)方法。
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