[發(fā)明專利]PCB設(shè)計(jì)圖的檢測方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010345382.7 | 申請日: | 2020-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113642281A | 公開(公告)日: | 2021-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘭銀華 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江宇視科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/392 | 分類號(hào): | G06F30/392;G06F30/398 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 310051 浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道江陵路*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pcb 設(shè)計(jì)圖 檢測 方法 裝置 設(shè)備 介質(zhì) | ||
1.一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
確定PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域和限制區(qū)域;
構(gòu)建所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和所述限制區(qū)域的限制外接邊框;
對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測,用以確定兩個(gè)外接邊框是否相交;
依據(jù)邊框相交檢測結(jié)果,確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)對(duì)象包括:PCB設(shè)計(jì)圖中布置的元器件封裝和/或絲印;所述限制區(qū)域包括以下至少一項(xiàng):PCB設(shè)計(jì)圖中設(shè)置的禁布區(qū)、限高區(qū)、工裝區(qū)、亮銅區(qū)以及元器件封裝區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,構(gòu)建所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和所述限制區(qū)域的限制外接邊框,包括:
確定目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)區(qū)域位置信息;以及,依據(jù)所述目標(biāo)區(qū)域位置信息,構(gòu)建一個(gè)包圍所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的外接邊框,并確定為目標(biāo)外接邊框;
確定限制區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的限制區(qū)域位置信息;以及,依據(jù)所述限制區(qū)域位置信息,構(gòu)建一個(gè)包圍所述限制區(qū)域的外接邊框,并確定為限制外接邊框。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測,包括:
確定所述目標(biāo)外接邊框關(guān)聯(lián)的目標(biāo)邊框位置點(diǎn),并確定所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)關(guān)聯(lián)的目標(biāo)直線;其中,所述目標(biāo)直線包括經(jīng)過所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)的預(yù)設(shè)方向的直線;
若確定所述目標(biāo)位置點(diǎn)關(guān)聯(lián)的目標(biāo)直線與所述限制外接邊框的邊框線段存在交點(diǎn),則依據(jù)位于所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)兩側(cè)的交點(diǎn)個(gè)數(shù),確定目標(biāo)外接邊框與限制外接邊框是否相交。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,依據(jù)位于所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)兩側(cè)的交點(diǎn)個(gè)數(shù),確定目標(biāo)外接邊框與限制外接邊框是否相交,包括:
若位于所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)兩側(cè)的交點(diǎn)個(gè)數(shù)均為奇數(shù),則確定所述目標(biāo)外接邊框與所述限制外接邊框相交;
若位于所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)兩側(cè)的交點(diǎn)個(gè)數(shù)均為偶數(shù),則確定所述目標(biāo)外接邊框與所述限制外接邊框不相交。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測,還包括:
若確定各個(gè)所述目標(biāo)邊框位置點(diǎn)關(guān)聯(lián)的目標(biāo)直線與所述限制外接邊框的邊框線段均不存在交點(diǎn),則確定所述目標(biāo)外接邊框與所述限制外接邊框不相交。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,依據(jù)邊框相交檢測結(jié)果,確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求,包括:
若確定兩個(gè)外接邊框相交,則確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中與所述限制區(qū)域產(chǎn)生交疊,并判定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的設(shè)計(jì)位置不符合設(shè)置要求;
若確定兩個(gè)外接邊框不相交,則確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中與所述限制區(qū)域未產(chǎn)生交疊,并判定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的設(shè)計(jì)位置符合設(shè)置要求。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測之后,還包括:
在確定邊框相交檢測結(jié)果的情況下,檢測所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的附加屬性信息是否匹配所述限制區(qū)域的附加屬性信息;其中,所述附加屬性信息包括高度信息。
9.一種PCB設(shè)計(jì)圖的檢測裝置,其特征在于,所述裝置包括:
布局區(qū)域確定模塊,用于確定PCB設(shè)計(jì)圖中的目標(biāo)對(duì)象區(qū)域和限制區(qū)域;
外接圖形構(gòu)建模塊,用于構(gòu)建所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域的目標(biāo)外接邊框和限制區(qū)域的限制外接邊框;
外接圖形檢測模塊,用于對(duì)所述目標(biāo)外接邊框和所述限制外接邊框進(jìn)行邊框相交檢測,用以確定兩個(gè)外接邊框是否相交;
PCB設(shè)計(jì)圖檢測模塊,用于依據(jù)邊框相交檢測結(jié)果,確定所述目標(biāo)對(duì)象區(qū)域在所述PCB設(shè)計(jì)圖中的設(shè)計(jì)位置是否滿足設(shè)計(jì)要求。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江宇視科技有限公司,未經(jīng)浙江宇視科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010345382.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





