[發(fā)明專利]檢驗方法、檢驗系統(tǒng)和存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010344880.X
• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111538632B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蔡華軒
• 申請（專利權(quán)）人: OPPO(重慶)智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京知帆遠(yuǎn)景知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11890
• 代理人: 徐靜

本申請公開了一種檢驗方法、檢驗系統(tǒng)和存儲介質(zhì)，檢驗方法包括：根據(jù)電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果檢驗待校驗的功能測試項是否通過，標(biāo)志位結(jié)果用于標(biāo)志與標(biāo)志位對應(yīng)的功能測試項是否通過；在待校驗的功能測試項通過時，清除電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果，并將電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果保存至外部設(shè)備；在復(fù)驗電子裝置并且功能測試項不需要復(fù)測時，將外部設(shè)備保存的全部標(biāo)志位結(jié)果寫入電子裝置中以復(fù)驗電子裝置。如此，在復(fù)驗電子裝置并且功能測試項不需要復(fù)測時，外部設(shè)備保存的全部標(biāo)志位結(jié)果寫入電子裝置中，無需復(fù)測功能測試項以在電子裝置中寫入新的標(biāo)志位結(jié)果，可以使電子裝置復(fù)驗可以較快地通過，節(jié)約了測試時間和成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種檢驗方法、檢驗系統(tǒng)和存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

在手機(jī)等電子裝置生產(chǎn)的過程中，通常需要對電子裝置的功能或性能進(jìn)行測試，以保證出廠后的電子裝置的品質(zhì)。在電子裝置測試過程中，一般將測試結(jié)果保存在電子裝置中，以使校驗時確定電子裝置全部的測試項目是否通過。

在一些相關(guān)技術(shù)中，校驗電子裝置的全部測試項目通過后，將電子裝置中保存的測試結(jié)果清除。在復(fù)測電子裝置中的某個測試項時，若該測試項不合格，在再次校驗電子裝置時，由于電子裝置中的測試結(jié)果被清除，需要重新測試所有的測試項目，增加了測試時間和測試成本。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┮环N檢驗方法、檢驗系統(tǒng)和存儲介質(zhì)。

本申請實施方式的檢驗方法用于電子裝置，所述檢驗方法包括：

根據(jù)電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果檢驗待校驗的功能測試項是否通過，所述標(biāo)志位結(jié)果用于標(biāo)志與標(biāo)志位對應(yīng)的功能測試項是否通過；

在所述待校驗的功能測試項通過時，清除所述電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果，并將所述電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果保存至外部設(shè)備；

在復(fù)驗所述電子裝置并且所述功能測試項不需要復(fù)測時，將所述外部設(shè)備保存的全部標(biāo)志位結(jié)果寫入所述電子裝置中以復(fù)驗所述電子裝置。

本申請實施方式的檢驗系統(tǒng)包括檢驗?zāi)K、處理模塊和寫入模塊，檢驗?zāi)K用于根據(jù)電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果檢驗待校驗的功能測試項是否通過，所述標(biāo)志位結(jié)果用于標(biāo)志與標(biāo)志位對應(yīng)的功能測試項是否通過。處理模塊用于在所述待校驗的功能測試項通過時，清除所述電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果，并將所述電子裝置保存的全部標(biāo)志位結(jié)果保存至外部設(shè)備；寫入模塊用于在復(fù)驗所述電子裝置并且所述功能測試項不需要復(fù)測時，將所述外部設(shè)備保存的全部標(biāo)志位結(jié)果寫入所述電子裝置中以復(fù)驗所述電子裝置。

本申請另一種實施方式的檢驗系統(tǒng)包括：

一個或多個處理器、存儲器；和

一個或多個程序，其中所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被所述一個或多個處理器執(zhí)行，所述程序包括用于執(zhí)行根據(jù)以上實施方式所述的檢驗方法的指令。

一種包含計算機(jī)可執(zhí)行指令的非易失性計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，當(dāng)所述計算機(jī)可執(zhí)行指令被一個或多個處理器執(zhí)行時，使得所述處理器執(zhí)行以上實施方式所述的檢驗方法。

本申請實施方式的檢驗方法、檢驗系統(tǒng)和存儲介質(zhì)中，在復(fù)驗電子裝置并且功能測試項不需要復(fù)測時，外部設(shè)備保存的全部標(biāo)志位結(jié)果寫入電子裝置中，無需復(fù)測功能測試項以在電子裝置中寫入新的標(biāo)志位結(jié)果，可以使電子裝置復(fù)驗可以較快地通過，節(jié)約了測試時間和成本。

本申請的附加方面的優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本申請的實踐了解到。

附圖說明

本申請的上述和/或附加的方面和優(yōu)點從結(jié)合下面附圖對實施方式的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1是本申請實施方式的電子裝置的連接示意圖；