[發明專利]檢驗方法、檢驗系統和存儲介質

有效

• 申請號: 202010344880.X
• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111538632B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 蔡華軒
• 申請（專利權）人: OPPO(重慶)智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京知帆遠景知識產權代理有限公司 11890
• 代理人: 徐靜

1.一種檢驗方法，用于電子裝置，其特征在于，所述檢驗方法包括：

根據電子裝置保存的全部標志位結果檢驗待校驗的功能測試項是否通過，所述標志位結果用于標志與標志位對應的功能測試項是否通過；

在所述待校驗的功能測試項通過時，清除所述電子裝置保存的全部標志位結果，并將所述電子裝置保存的全部標志位結果保存至外部設備；

在復驗所述電子裝置并且所述功能測試項不需要復測時，將所述外部設備保存的全部標志位結果寫入所述電子裝置中以復驗所述電子裝置。

2.根據權利要求1所述的檢驗方法，其特征在于，所述檢驗方法包括：

在所述待校驗的功能測試項通過時，將識別碼寫入所述電子裝置中。

3.根據權利要求1或2所述的檢驗方法，其特征在于，所述檢驗方法包括：

確認所述電子裝置的非功能測試項是否通過；

在所述非功能測試項沒有通過時，復驗所述電子裝置。

4.根據權利要求3所述的檢驗方法，其特征在于，確認所述電子裝置的非功能測試項是否通過包括：

確認所述電子裝置儲存的測試內容是否清除；

在所述非功能測試項沒有通過時，復驗所述電子裝置，包括：

在所述測試內容沒有清除時，復驗所述電子裝置。

5.根據權利要求3所述的檢驗方法，其特征在于，確認所述電子裝置的非功能測試項是否通過包括：

確認所述電子裝置是否關機；

在所述非功能測試項沒有通過時，復驗所述電子裝置，包括：

在電子裝置沒有關機時，復驗所述電子裝置。

6.根據權利要求1所述的檢驗方法，其特征在于，所述檢驗方法包括：

在復驗所述電子裝置且至少一個所述功能測試項需要復測時，將所述外部設備中保存的所述全部標志位結果設置為失效。

7.根據權利要求6所述的檢驗方法，其特征在于，在將所述外部設備中保存的所述全部標志位結果設置為失效后，所述檢驗方法包括：

在所述電子裝置重新測試第一個功能測試項，清空所述標志位。

8.一種檢驗系統，其特征在于，包括：

檢驗模塊，用于根據電子裝置保存的全部標志位結果檢驗待校驗的功能測試項是否通過，所述標志位結果用于標志與標志位對應的功能測試項是否通過；

處理模塊，用于在所述待校驗的功能測試項通過時，清除所述電子裝置保存的全部標志位結果，并將所述電子裝置保存的全部標志位結果保存至外部設備；

寫入模塊，用于在復驗所述電子裝置并且所述功能測試項不需要復測時，將所述外部設備保存的全部標志位結果寫入所述電子裝置中以復驗所述電子裝置。

9.一種檢驗系統，其特征在于，包括：

一個或多個處理器、存儲器；和

一個或多個程序，其中所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被所述一個或多個處理器執行，所述程序包括用于執行根據權利要求1-7任意一項所述的檢驗方法的指令。

10.一種包含計算機可執行指令的非易失性計算機可讀存儲介質，其特征在于，當所述計算機可執行指令被一個或多個處理器執行時，使得所述處理器執行權利要求1-7任一項所述的檢驗方法。