[發明專利]一種顯示面板和顯示裝置

有效

• 申請號: 202010344121.3
• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111540756B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 張蒙蒙;周星耀;高婭娜;李玥
• 申請（專利權）人: 武漢天馬微電子有限公司;武漢天馬微電子有限公司上海分公司
• 主分類號: H01L27/12
• 分類號: H01L27/12;H01L23/544
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 李曉霞

本發明實施例提供一種顯示面板和顯示裝置。顯示面板包括顯示區和圍繞顯示區的非顯示區；多個像素電路包括位于顯示區的顯示像素電路和位于非顯示區的虛設像素電路；每個像素電路均包括至少一個晶體管和與該晶體管相對應的柵極信號端、源極信號端、漏極信號端；虛設像素電路包括第一晶體管，第一晶體管和與其相關的至少部分信號端斷開；非顯示區內設置有多個測試板；第一晶體管的柵極、源極、漏極分別與相應的測試板電連接。本發明能夠降低用于檢測的晶體管的特性與顯示區晶體管實際特性的差異，確保對顯示面板晶體管特性評價的準確性，從而實現監控顯示區內晶體管特性的均勻性。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板和顯示裝置。

背景技術

在現有的顯示技術中，通常采用薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)制作的像素電路來驅動像素顯示。在顯示面板中包括呈陣列排布的多個像素電路，而像素電路中TFT的特性會影響顯示面板的顯示效果，所以通常需要對像素電路中的TFT的特性進行監控以保證產品良率和產品性能。

現有技術中對TFT特性的監控包括線上監控和線下量測兩種方式。其中，線上監控的方式是在制作時將測試單元設置在顯示面板母板上，通過監測測試單元的特性來評價顯示面板顯示區內TFT的特性，該種方式由于測試單元距顯示面板顯示區的距離較遠，則其監控的測試單元的特性與顯示區內的TFT的特性存在一定差異；線下量測的方式是在將顯示面板母板切割成顯示面板之后，抽取部分顯示面板進行量測，在量測時需要首先進行鐳射操作，將待檢測的TFT的相關走線斷開，由于鐳射對于膜層有一定的損傷，所以采用該方法的量測與實際的TFT特性也會有一些差異。由此可見，現有技術監測的TFT特性與顯示區實際TFT特性存在一定差異，對TFT特性的評價存在一定偏差。

發明內容

本發明實施例提供一種顯示面板和顯示裝置，提升對顯示區TFT特性評價的準確性，保證顯示面板良率，避免顯示面板顯示不均。

為了解決上述技術問題，第一方面，本發明實施例提供一種顯示面板，顯示面板包括顯示區和圍繞顯示區的非顯示區；

顯示面板包括多個像素電路，多個像素電路包括顯示像素電路和虛設像素電路，多個顯示像素電路在顯示區內排列成像素電路陣列，虛設像素電路位于非顯示區；

每個像素電路均包括至少一個晶體管和與該晶體管相對應的柵極信號端、源極信號端、漏極信號端；

虛設像素電路包括第一晶體管和與第一晶體管相對應的第一柵極信號端、第一源極信號端、第一漏極信號端，第一晶體管的柵極與第一柵極信號端斷開，第一晶體管的源極與第一源極信號端斷開，第一晶體管的漏極與第一漏極信號端斷開；

非顯示區內設置有多個測試板，多個測試板包括第一測試板、第二測試板和第三測試板；其中，

第一晶體管的柵極與第一測試板電連接，第一晶體管的源極與第二測試板電連接，第一晶體管的漏極與第三測試板電連接。

第二方面，基于同一發明構思，本發明實施例還提供一種顯示裝置，包括本發明任意實施例提供的顯示面板。