[發明專利]一種建筑物尺寸測量方法

有效

• 申請號: 202010335323.1
• 申請日: 2020-04-24
• 公開（公告）號: CN111412888B
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 武一葦
• 申請（專利權）人: 武漢派涅爾科技有限公司
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00;G01C15/00;G01S15/88;G01S17/88
• 代理公司: 成都頂峰專利事務所(普通合伙) 51224
• 代理人: 左正超

本發明涉及建筑檢測技術領域，其目的在于提供一種建筑物尺寸測量系統及測量方法。本發明公開了一種建筑物尺寸測量系統，包括視覺檢測裝置和與視覺檢測裝置對應設置的標靶，視覺檢測裝置設置在建筑物的待檢測點上，標靶設置在遠離建筑物的任一基準點上，標靶為多面體結構。本發明還公開了一種建筑物尺寸測量方法，包括：使視覺檢測裝置與建筑物的待檢測點對應；使標靶與遠離建筑物的任一基準點對應，在標靶上預設多個特征點，得到標靶的各特征點之間的距離；測量標靶的各特征點的方位信息；得到標靶相對于視覺檢測裝置的第一位姿；得到視覺檢測裝置相對于標靶的第一位姿。本發明測量效率高，可同時實現建筑物某待測點的位置和姿態的測量。

技術領域

本發明涉及建筑檢測技術領域，特別是涉及一種建筑物尺寸測量系統及測量方法。

背景技術

建筑工程中，為確保建筑質量與尺寸精度，需要定期定節點對建筑物的各種幾何尺寸進行測量。根據測量結果，決定已經完成的工作是否合格，并對后一階段的工程進行對應的調整。其測量的效率直接影響項目的工期，測量的精度決定了工程的質量。

現有技術中，一般使用經緯儀實現測量，測量時，利用固定的基準點對建筑物結構的其他關鍵尺寸進行測量。然而，由于建筑工程現場環節復雜，建筑物結構尺寸眾多，難以依靠單一基準點完成測量工作，實際操作過程中，往往需要進行多次基準變換，造成測量效率低下。因此，有必要研究一種測量效率高的建筑物尺寸測量系統及測量方法。

發明內容

本發明旨在至少在一定程度上解決上述技術問題，本發明提供了一種建筑物尺寸測量系統及測量方法。

本發明采用的技術方案是：

一種建筑物尺寸測量系統，包括視覺檢測裝置和與視覺檢測裝置對應設置的標靶，所述視覺檢測裝置設置在建筑物的待檢測點上，所述標靶設置在遠離建筑物的任一基準點上，所述標靶為多面體結構。

優選地，所述視覺檢測裝置可移動地設置在建筑物上。

優選地，所述標靶設置有多個，多個所述標靶分散設置，多個所述標靶分別設置在遠離建筑物的多個基準點上。

進一步優選地，所述視覺檢測裝置包括激光雷達或超聲波雷達。

一種根據上述的一種建筑物尺寸測量系統的測量方法，包括以下步驟：

使視覺檢測裝置與建筑物的待檢測點對應；

使標靶與遠離建筑物的任一基準點對應，在標靶上預設多個特征點，得到標靶的各特征點之間的距離；

視覺檢測裝置測量標靶的各特征點的方位信息；

根據標靶的各特征點之間的距離和標靶的各特征點的方位信息，得到標靶相對于視覺檢測裝置的第一位姿；

得到視覺檢測裝置相對于標靶的第一位姿。

優選地，所述得到視覺檢測裝置相對于標靶的第一位姿的步驟后，還包括以下步驟：

移動視覺檢測裝置，使視覺檢測裝置與建筑物的其他待檢測點對應；

視覺檢測裝置再次測量標靶的各特征點的方位信息；

根據標靶的各特征點之間的距離和再次測量到的標靶的各特征點的方位信息，得到標靶相對于視覺檢測裝置的第二位姿；

得到視覺檢測裝置相對于標靶的第二位姿；

根據視覺檢測裝置相對于標靶的第一位姿和視覺檢測裝置相對于標靶的第二位姿，得到視覺檢測裝置相對于標靶的平均位姿。

優選地，所述使標靶與遠離建筑物的任一基準點對應的步驟中，還包括以下步驟：

調整標靶的位置，使標靶的底面與水平面平行。